JAJSLN2 November   2021 TPS7H1210-SEP

PRODUCTION DATA  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
  4. Revision History
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Internal Current Limit
      2. 7.3.2 Enable Pin Operation
      3. 7.3.3 Programmable Soft-Start
      4. 7.3.4 Thermal Protection
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Normal Operation
      2. 7.4.2 Dropout Operation
      3. 7.4.3 Disabled
  8. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
      1. 8.1.1 Adjustable Operation
      2. 8.1.2 Capacitor Recommendations
      3. 8.1.3 Noise Reduction and Feed-Forward Capacitor Requirements
      4. 8.1.4 Power-Supply Rejection Ratio (PSRR)
      5. 8.1.5 Output Noise
      6. 8.1.6 Transient Response
      7. 8.1.7 Post DC-DC Converter Filtering
      8. 8.1.8 Power for Precision Analog
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 8.2.3 Application Curves
    3. 8.3 Do's and Don’ts
  9. Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
      1. 10.1.1 Improve PSRR and Noise Performance
    2. 10.2 Layout Example
    3. 10.3 Thermal Performance
  11. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 Device Support
      1. 11.1.1 Development Support
        1. 11.1.1.1 Spice Models
    2. 11.2 Documentation Support
      1. 11.2.1 Related Documentation
    3. 11.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 11.4 サポート・リソース
    5. 11.5 Trademarks
    6. 11.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 11.7 用語集
  12. 12Mechanical, Packaging, and Orderable Information

特長

  • VID (Vendor Item Drawing) V62/21616 が利用可能
  • 総照射線量 (TID) 耐性 = 30krad (Si)
    • すべてのウェハー・ロットについて、20krad(Si) までの TID RLAT (放射線ロット受け入れテスト)
  • シングルイベント効果 (SEE) の特性
    • シングルイベント・ラッチアップ (SEL)、シングルイベント・バーンアウト (SEB)、シングルイベント・ゲート・ラプチャー (SEGR) の、線エネルギー付与 (LET) に対する耐性 = 43MeV-cm2/mg
    • シングルイベント機能割り込み (SEFI) およびシングルイベント過渡 (SET) の LET に対する耐性 = 43MeV-cm2/mg
  • 低ノイズ:13.7μVRMS (標準値、10Hz~100kHz)
  • 高い電源除去比、PSRR (VIN = -6V、VOUT = -5V、IOUT = 1A での標準値):
    • 100Hz 時に 61dB
    • 100kHz 時に 61dB
    • 1MHz 時に 41dB
  • 入力電圧範囲:-3V~-16.5V
  • 調整可能な出力:-1.2V~-15.5V
  • 最大 1A の出力電流
  • 10µF 以上のセラミック出力コンデンサで安定動作
  • 電流制限とサーマル・シャットダウン保護機能を内蔵
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
    • 管理されたベースライン
    • 金ボンド・ワイヤ
    • NiPdAu リード仕上げ
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 軍用温度範囲:-55℃~125℃
    • 長い製品ライフ・サイクル
    • 製品変更通知期間 (PCN) の延長
    • 製品のトレーサビリティ
    • モールド・コンパウンドの改良による低いガス放出