2 EOS의 이해

ESD 산업 협의회에서는 전기적 과도 스트레스[3]를 "장치에 걸리는 전압, 흐르는 전류, 또는 소모되는 전력의 최대 한계치를 초과하여 즉각적인 손상이나 오작동을 일으키거나, 수명의 예측 불가능한 감소를 초래하는 잠재적 손상을 유발하는 경우"로 정의합니다. 이러한 조건들 중에서, 과전압은 다이오드의 순방향 또는 역방향 항복이나 IC(집적 회로) 내의 산화물이 항복 전압에 도달하는 등 의도하지 않은 전류 경로를 열 수 있습니다. 과전압이 의도하지 않은 전류 경로를 열면, 그 결과 발생하는 전류는 실리콘의 용융, 금속 상호 연결부의 용단, 패키지 재료의 열 손상, 그리고 본드 와이어의 용단 등의 손상을 일으켜 EIPD(전기적으로 유도된 물리적 손상)로 이어질 수 있습니다.

EOS를 장치의 전압 정격에 고유한 최대 정격 절대값과 연관시킬 수 있습니다.

• 영역 A: 안전 작동 영역입니다.
• 영역 B: 장치 기능 또는 매개 변수 사양에 대한 보증이 없습니다. 물리적 손상은 예상되지 않지만 장시간 작동할 경우 안정성 문제가 발생할 수 있습니다.
• 영역 C: 최대 정격 절대값 범위를 벗어나면 장치 수명이 심각하게 저하되고 잠재적 고장이 발생할 위험이 있습니다.
• 영역 D: 즉각적인 물리적 손상이 발생할 것으로 예상됩니다.

그림 1에서 볼 수 있듯이, 장치가 최대 정격 절대값을 초과하여 작동하면 문제가 발생할 수 있습니다. 바로 이런 이유 때문에 최대 정격 절대값을 초과하는 과도 과전압을 억제하려면 보호 장치가 필요합니다.