NEST155 April   2025 LM5066I

 

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  2. 簡介
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  4. 為 48V AI 伺服器設計熱插拔電路時所面臨的挑戰
  5. 挑戰 1:輸出短路期間的關閉延遲
  6. 挑戰 2:在負載暫態期間的誤閘極關閉問題
  7. 挑戰 3:在受控(慢速)開啟期間產生平行共振
  8. 建議的電路強化功能
  9. 改善關閉響應
  10. 克服動態負載的誤關閉問題
  11. 10阻尼寄生振盪
  12. 11設計準則和元件選擇
  13. 12Cdv/dt 放電迴路
  14. 13結論
  15. 14參考資料
  16. 15相關網站

為 48V AI 伺服器設計熱插拔電路時所面臨的挑戰

觀察熱插拔電路配置多年來的演進過程十分有趣。熱插拔解決方案由三個主要元件組成:用作主電源控制開關的 N 通道金屬氧化半導體場效電晶體 (MOSFET);測量電流的感測電阻器;以及熱插拔控制器,其中包括完成迴路以控制 MOSFET 的導通電流的電流感測放大器。

圖 2 所示,您可針對低功耗設計使用單一 MOSFET 架構的熱插拔解決方案。從根本而言,熱插拔控制器具有電流和功率限制功能,可限制突波電流和故障電流,同時確保 MOSFET 的安全工作區 (SOA)。這些功能十分實用,足以設計低功耗 (<500W) 熱插拔解決方案。

 傳統的功率限制熱插拔電路。圖 2 傳統的功率限制熱插拔電路。
 具有閘極電壓轉換速率控制功能的熱插拔電路。圖 3 具有閘極電壓轉換速率控制功能的熱插拔電路。
 具有 Cdv/dt 局部放電路徑的熱插拔電路。圖 4 具有 Cdv/dt 局部放電路徑的熱插拔電路。

隨著數位負載的增加,系統需要更高的輸出電容 (>470µF),需要並聯 MOSFET 來支援就緒狀態電流,並採用輸出電壓轉換速率控制 [1] 以使 MOSFET 保持在其 SOA 內。

在輸出電壓轉換速率控制方法中,位於 GATE-GND 上的電容器 Cdv/dt(請參閱圖 3)會限制閘極電壓轉換速率和輸出電壓,以限制突波電流。當 MOSFET 中的功率耗散減少並分散至更長的持續時間時,MOSFET 即可處理更多的能量。因此,隨著輸出電容增加,您需要更高的 C dv/dt 來降低啟動期間 MOSFET 的突波電流和功率耗散。

較高的 Cdv/dt 會干擾關閉程序,然而熱插拔控制器的下拉強度卻有限。這就需要一個局部「P 通道 - N 通道 - P 通道」(PNP) 的放電電路來進行 Cdv/dt,如 圖 4 所示。在啟動期間,Cdv/dt 會以相同方式控制電壓轉換速率,但在關閉事件期間,Q1 PNP 電晶體會局部啟動 Cdv/dt 並進行放電。二極體 D1 可將 Cdv/dt 放電阻斷至閘極接腳,以減少閘極接腳上的應力,同時確保控制器正常運作。

在 AI 支援的圖形處理單元應用中,熱插拔解決方案必須支援約 150A 的電流,並且必須支援高頻、高轉換速率負載暫態,而這將帶來三個全新的挑戰。