디지털 엑스레이 AFE
의료 및 치과 영상, 비파괴 검사 및 디스플레이 보정 시스템을 위한 고집적 충전-디지털 AFE(아날로그 프론트 엔드)
X선 평면 패널 검출기(FPD), 충전 감지 및 커패시턴스 측정 시스템을 위한 TI의 다채널 AFE는 최대 256개의 적분기, 프로그래머블 게인 증폭기(PGA), 상관된 이중 샘플러 및 고속 충전-디지털 컨버터(ADC)를 통합합니다. COF(chip-on-flex) 패키지 또는 다이 판매로 제공되는 이러한 제품은 광범위한 충전 범위와 스캔 시간 옵션을 제공하여 사용자가 EV(전기차) 배터리 검사와 같은 NDT(동적, 반역학, 치과, 정적 및 비파괴 테스트) 애플리케이션에 전력 대 성능을 절충할 수 있도록 합니다.
TI의 디지털 X-Ray AFE를 선택하는 이유는 무엇입니까?
시스템 설계 간소화
단일 전원 공급 방식 및 높은 수준의 통합으로 보드 레이아웃을 간소화하고 공간 절약을 높일 수 있습니다.
향상된 시스템 성능
전력 소비를 절감하고 시스템 프레임 속도 및 이미징 품질을 개선합니다.
다양한 시장에 맞는 호환 가능한 제품 제공
핀, 패키지 및 소프트웨어 호환 제품군은 고객이 다양한 정적, 동적 및 고출력 범위 애플리케이션을 충족하는 단일 플랫폼 접근 방식을 지원합니다.