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CD54HCT30

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Einfaches NAND-Gatter für Militärzwecke mit 8 Eingängen, 4,5 bis 5,5 V

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CD54HCT30

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Produktdetails

Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67
  • LSTTL input logic compatible
    • VIL(max) = 0.8 V, VIH(min) = 2 V
  • CMOS input logic compatible
    • II ≤ 1 µA at VOL, VOH
  • Buffered inputs
  • 4.5 V to 5.5 V operation
  • Wide operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
  • LSTTL input logic compatible
    • VIL(max) = 0.8 V, VIH(min) = 2 V
  • CMOS input logic compatible
    • II ≤ 1 µA at VOL, VOH
  • Buffered inputs
  • 4.5 V to 5.5 V operation
  • Wide operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs

This device contains one independent 8-input NAND gate. Each gate performs the Boolean function Y =  A ● B ● C ● D ● E ● F ● G ● H in positive logic.

This device contains one independent 8-input NAND gate. Each gate performs the Boolean function Y =  A ● B ● C ● D ● E ● F ● G ● H in positive logic.
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Typ Titel Datum
* Data sheet CD54HCT30, CD74HCT30 High Speed CMOS Logic 8-Input NAND Gate datasheet 05 Mär 2020

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Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
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  • Werksstandort
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