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SN74LVC132A-Q1

AKTIV

Vierfach-positive-NAND-Gatter für die Automobilindustrie, mit Schmitt-Trigger-Eingängen

Produktdetails

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Available in wettable flank QFN (WBQA) package

  • Operating range from 1.1V to 3.6V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000V Human-Body Model (A114-A)
    • 1000V Charged-Device Model (C101)
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Available in wettable flank QFN (WBQA) package

  • Operating range from 1.1V to 3.6V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000V Human-Body Model (A114-A)
    • 1000V Charged-Device Model (C101)

The SN74LVC132A-Q1 device is a quadruple positive-NAND gate with Schmitt-trigger inputs for added noise immunity and support for slow input signal transitions. Each gate performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B in positive logic.

The SN74LVC132A-Q1 device is a quadruple positive-NAND gate with Schmitt-trigger inputs for added noise immunity and support for slow input signal transitions. Each gate performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B in positive logic.

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Technische Dokumentation

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Typ Titel Datum
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Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 Jun 1997
Application note LVC Characterization Information 01 Dez 1996
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 Okt 1996
Application note Live Insertion 01 Okt 1996
Design guide Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 01 Sep 1996
Application note Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 01 Mai 1996

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

14-24-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14-polige bis 24-polige D-, DB-, DGV-, DW-, DYY-, NS-

Das 14-24-LOGIC-EVM-Evaluierungsmodul (EVM) ist für die Unterstützung aller Logikgeräte konzipiert, die sich in einem 14-Pin- bis 24-Pin-D-, DW-, DB-, NS-, PW-, DYY- oder DGV-Gehäuse befinden.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Evaluierungsplatine

14-24-NL-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14- bis 24-polige bleifreie Gehäuse

14-24-NL-LOGIC-EVM ist ein flexibles Evaluierungsmodul (EVM), das alle Logik- oder Übersetzungsbausteine mit einem 14- bis 24-poligen BQA-, BQB-, RGY-, RSV-, RJW- oder RHL-Gehäuse unterstützt.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Gehäuse Pins Herunterladen
TSSOP (PW) 14 Optionen anzeigen
WQFN (BQA) 14 Optionen anzeigen

Bestellen & Qualität

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  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

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