Inicio Convertidores de datos Convertidores analógico-digitales (ADC) ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)
Inicio
Convertidores de datos
Convertidores analógico-digitales (ADC)
ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)
NUEVO

ADC3664-SEP

ACTIVO

ADC dual de 125 MSPS, 30 krad, 14 bits, tolerante a la radiación

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

ADC3664-SEP

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

Sample rate (max) (Msps) 125 Resolution (Bits) 14 Number of input channels 2 Interface type Serial LVDS Analog input BW (MHz) 200 Features Bypass Mode, Decimating Filter, Differential Inputs, Dual Channel, High Dynamic Range, High Performance, Internal Reference, LVDS interface, Low latency, Low power Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 3.2 Power consumption (typ) (mW) 200 Architecture SAR SNR (dB) 78 ENOB (Bits) 12.6 SFDR (dB) 84 Operating temperature range (°C) -55 to 105 Radiation, TID (typ) (krad) 30 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 43
Sample rate (max) (Msps) 125 Resolution (Bits) 14 Number of input channels 2 Interface type Serial LVDS Analog input BW (MHz) 200 Features Bypass Mode, Decimating Filter, Differential Inputs, Dual Channel, High Dynamic Range, High Performance, Internal Reference, LVDS interface, Low latency, Low power Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 3.2 Power consumption (typ) (mW) 200 Architecture SAR SNR (dB) 78 ENOB (Bits) 12.6 SFDR (dB) 84 Operating temperature range (°C) -55 to 105 Radiation, TID (typ) (krad) 30 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 43
WQFN (RSB) 40 25 mm² 5 x 5
  • Radiation tolerant (-SEP only):
    • Single-event latch-up (SEL) immune up to LET = 43 MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized up to LET = 43 MeV-cm2/mg
    • Total ionizing dose (TID): 30krad(Si)
  • Enhanced product (-EP and -SEP):
    • Meets ASTM E595 outgassing specification
    • Vendor item drawing (VID)
    • Temperature range: –55°C to 105°C
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Gold bond wire, NiPdAu lead finish
    • Wafer lot traceability
    • Extended product life cycle
  • Dual channel, 125MSPS ADC
  • 14-bit resolution (no missing codes)
  • Noise floor: –156.9dBFS/Hz
  • Low power consumption: 100mW/ch (at 125MSPS)
  • Latency: 2 clock cycles
  • Voltage reference options:
    • External: 1 to 125MSPS
    • Internal: 100 to 125MSPS
  • Input bandwidth: 200MHz (3dB)
  • INL: ±2.6 LSB; DNL: ±0.9 LSB (typical)
  • On-chip DSP (optional/bypassable)
    • Decimation by 2, 4, 8, 16, 32
    • 32-bit NCO
  • Serial LVDS digital interface (2-, 1- and 1/2-wire)
  • Small Footprint: 40 QFN (5 × 5mm) package
  • Spectral performance (fIN = 5MHz):
    • SNR: 77.5dBFS
    • SFDR: 84dBc HD2, HD3
    • SFDR: 92dBFS worst spur
  • Radiation tolerant (-SEP only):
    • Single-event latch-up (SEL) immune up to LET = 43 MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized up to LET = 43 MeV-cm2/mg
    • Total ionizing dose (TID): 30krad(Si)
  • Enhanced product (-EP and -SEP):
    • Meets ASTM E595 outgassing specification
    • Vendor item drawing (VID)
    • Temperature range: –55°C to 105°C
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Gold bond wire, NiPdAu lead finish
    • Wafer lot traceability
    • Extended product life cycle
  • Dual channel, 125MSPS ADC
  • 14-bit resolution (no missing codes)
  • Noise floor: –156.9dBFS/Hz
  • Low power consumption: 100mW/ch (at 125MSPS)
  • Latency: 2 clock cycles
  • Voltage reference options:
    • External: 1 to 125MSPS
    • Internal: 100 to 125MSPS
  • Input bandwidth: 200MHz (3dB)
  • INL: ±2.6 LSB; DNL: ±0.9 LSB (typical)
  • On-chip DSP (optional/bypassable)
    • Decimation by 2, 4, 8, 16, 32
    • 32-bit NCO
  • Serial LVDS digital interface (2-, 1- and 1/2-wire)
  • Small Footprint: 40 QFN (5 × 5mm) package
  • Spectral performance (fIN = 5MHz):
    • SNR: 77.5dBFS
    • SFDR: 84dBc HD2, HD3
    • SFDR: 92dBFS worst spur

The ADC3664-xEP device is a low-noise, ultra-low power, 14-bit, 125MSPS, high-speed dual channel ADC. Designed for lowest noise performance, the device delivers a noise spectral density of -156.9dBFS/Hz combined with linearity and dynamic range. The ADC3664-xEP offers IF sampling support which makes the device designed for a wide range of applications. High-speed control loops benefit from the short latency as low as one clock cycle. The ADC consumes only 100mW/ch at 125MSPS, and the power consumption scales well with lower sampling rates.

The ADC3664-xEP uses a serial LVDS (SLVDS) interface to output the data which minimizes the number of digital interconnects. The device supports a two-lane, one-lane and half-lane option. The device supports an extended temperature range from –55°C to +105°C.

The ADC3664-xEP device is a low-noise, ultra-low power, 14-bit, 125MSPS, high-speed dual channel ADC. Designed for lowest noise performance, the device delivers a noise spectral density of -156.9dBFS/Hz combined with linearity and dynamic range. The ADC3664-xEP offers IF sampling support which makes the device designed for a wide range of applications. High-speed control loops benefit from the short latency as low as one clock cycle. The ADC consumes only 100mW/ch at 125MSPS, and the power consumption scales well with lower sampling rates.

The ADC3664-xEP uses a serial LVDS (SLVDS) interface to output the data which minimizes the number of digital interconnects. The device supports a two-lane, one-lane and half-lane option. The device supports an extended temperature range from –55°C to +105°C.
filter Buscar otro/a ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)
Descargar Ver vídeo con transcripción Video

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 4
Tipo Título Fecha
* Data sheet ADC3664-SEP ADC3664-EP 14-Bit, 125MSPS, Low Noise, Low Power Dual Channel ADC datasheet PDF | HTML 07 abr 2025
* Radiation & reliability report ADC3664-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 25 mar 2025
* Radiation & reliability report ADC3664-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 19 mar 2025
* Radiation & reliability report ADC3664-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report 19 mar 2025

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

ADC3664EVM — ADC de ADC3664 doble, 14 bits, 125 MSPS, relación señal-ruido alta y baja potencia con módulo de eva

El módulo de evaluación (EVM) ADC3664 está diseñado para evaluar la familia ADC3664 de convertidores analógico-digitales (ADC) de alta velocidad. El EVM está equipado con el ADC3664, un ADC de 16 bits y doble canal de 125 MSPS con interfaz LVDS en serie y permite la evaluación de dispositivos de (...)
Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

ADC3664EVMCVAL — Módulo de evaluación ADC3664-SP

El módulo de evaluación (EVM) ADC3664 está diseñado para evaluar el convertidor analógico a digital (ADC) de alta velocidad ADC3664-SP. El EVM está equipado con el ADC3664-SP, un ADC de 18 bits y doble canal de 125 MSPS con interfaz LVDS de serie.
Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® para TI es un entorno de diseño y simulación que ayuda a evaluar la funcionalidad de los circuitos analógicos. Esta completa suite de diseño y simulación utiliza un motor de análisis analógico de Cadence®. Disponible sin ningún costo, PSpice para TI incluye una de las bibliotecas de modelos (...)
Solicitar
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
WQFN (RSB) 40 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos