Inicio Lógica y traducción de voltaje Compuertas lógicas Compuertas combinadas
Inicio
Lógica y traducción de voltaje
Compuertas lógicas
Compuertas combinadas

CD4068B

ACTIVO

Puerta NAND/AND de 8 entradas CMOS

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

CD4068B

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Medium Speed Operation:
       tPHL, tPLH=75 ns (typ.) at VDD = 10 V
  • Buffered inputs and outputs
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (over full package-temperature range) =
         1 V at VDD = 5 V
         2 V at VDD = 10 V
      2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor
  • Medium Speed Operation:
       tPHL, tPLH=75 ns (typ.) at VDD = 10 V
  • Buffered inputs and outputs
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (over full package-temperature range) =
         1 V at VDD = 5 V
         2 V at VDD = 10 V
      2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

CD4068B NAND/AND gate provides the system designer with direct implementation of the positive-logic 8-input NAND and AND functions and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4068B types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4068B NAND/AND gate provides the system designer with direct implementation of the positive-logic 8-input NAND and AND functions and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4068B types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
filter Buscar otro/a Compuertas combinadas
Descargar

Productos similares que pueden interesarle

open-in-new Comparar alternativas
Funcionalidad similar a la del dispositivo comparado
SN74HCS09 ACTIVO Compuerta AND de 4 canales y 2 entradas de 2 V a 6 V con salidas de drenaje abierto y entradas de di Schmitt trigger inputs for increased noise immunity

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 1
Tipo Título Fecha
* Data sheet CD4068B TYPES datasheet (Rev. C) 21 ago 2003

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​