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CD4077B

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Puertas XNOR (NOR exclusivo) de 4 canales, 4 entradas, 3 V a 18 V

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CD4077B

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Detalles del producto

Technology family CD4000 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 6.8 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -6.8 Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 6.8 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -6.8 Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • High-Voltage Types (20V Rating)
  • CD4070B - Quad Exclusive-OR Gate
  • CD4077B - Quad Exclusive-NOR Gate
  • Medium Speed Operation
    • tPHL, tPLH = 65ns (Typ) at VDD = 10V, CL = 50pF
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20V
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • 5V, 10V and 15V Parametric Ratings
  • Maximum Input Current of 1µA at 18V Over Full Package Temperature Range
    • 100nA at 18V and 25°C
  • Noise Margin (Over Full Package Temperature Range)
    • 1V at VDD = 5V, 2V at VDD = 10V, 2.5V at VDD = 15V
  • Meets All Requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices
  • Applications
    • Logical Comparators
    • Adders/Subtractors
    • Parity Generators and Checkers

Data sheet acquired from Harris Semiconductor
  • High-Voltage Types (20V Rating)
  • CD4070B - Quad Exclusive-OR Gate
  • CD4077B - Quad Exclusive-NOR Gate
  • Medium Speed Operation
    • tPHL, tPLH = 65ns (Typ) at VDD = 10V, CL = 50pF
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20V
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • 5V, 10V and 15V Parametric Ratings
  • Maximum Input Current of 1µA at 18V Over Full Package Temperature Range
    • 100nA at 18V and 25°C
  • Noise Margin (Over Full Package Temperature Range)
    • 1V at VDD = 5V, 2V at VDD = 10V, 2.5V at VDD = 15V
  • Meets All Requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices
  • Applications
    • Logical Comparators
    • Adders/Subtractors
    • Parity Generators and Checkers

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

The Harris CD4070B contains four independent Exclusive-OR gates. The Harris CD4077B contains four independent Exclusive-NOR gates.

The CD4070B and CD4077B provide the system designer with a means for direct implementation of the Exclusive-OR and Exclusive-NOR functions, respectively.

The Harris CD4070B contains four independent Exclusive-OR gates. The Harris CD4077B contains four independent Exclusive-NOR gates.

The CD4070B and CD4077B provide the system designer with a means for direct implementation of the Exclusive-OR and Exclusive-NOR functions, respectively.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD4070B, CD4077B datasheet (Rev. E) 21 ago 2003
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Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
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Modelo de simulación

CD4077B Behavioral SPICE Model (Rev. A)

SCHM011A.ZIP (7 KB) - PSpice Model
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Modelo de simulación

CD4077B PSPICE Model

SCHM011.ZIP (7 KB) - PSpice Model
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Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 14 Ver opciones
SOIC (D) 14 Ver opciones
SOP (NS) 14 Ver opciones
TSSOP (PW) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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