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CD4093B-Q1

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Puertas NAND automotrices, de 4 canales, 2 entradas, 3 V a 18 V con entradas de disparador Schmitt

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CD4093B-Q1

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Detalles del producto

Technology family CD4000 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family CD4000 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOIC (D) 14 51.9 mm² (8.65 mm × 6 mm)
  • Qualified for Automotive Applications
  • Schmitt-Trigger Action on Each Input With No External Components
  • Hysteresis Voltage Typically 0.9 V at VDD = 5 V and 2.3 V at VDD = 10 V
  • Noise Immunity Greater Than 50%
  • No Limit on Input Rise and Fall Times
  • Standardized, Symmetrical Output Characteristics
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20 V
  • Maximum Input Current of 1µA at 18 V Over Full Package Temperature Range, 100 nA at 18 V and 25°C
  • 5-V, 10-V, and 15-V Parametric Ratings
  • ESD Protection Level Per AEC-Q100 Classification
    • 2000-V (H2) Human-Body Model
    • 200-V (M3) Machine-Model
    • 1000-V (C5) Charge-Device Model
  • Applications
    • Wave and Pulse Shapers
    • High-Noise-Environment Systems
    • Monostable Multivibrators
    • Astable Multivibrators
    • NAND Logic
  • Qualified for Automotive Applications
  • Schmitt-Trigger Action on Each Input With No External Components
  • Hysteresis Voltage Typically 0.9 V at VDD = 5 V and 2.3 V at VDD = 10 V
  • Noise Immunity Greater Than 50%
  • No Limit on Input Rise and Fall Times
  • Standardized, Symmetrical Output Characteristics
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20 V
  • Maximum Input Current of 1µA at 18 V Over Full Package Temperature Range, 100 nA at 18 V and 25°C
  • 5-V, 10-V, and 15-V Parametric Ratings
  • ESD Protection Level Per AEC-Q100 Classification
    • 2000-V (H2) Human-Body Model
    • 200-V (M3) Machine-Model
    • 1000-V (C5) Charge-Device Model
  • Applications
    • Wave and Pulse Shapers
    • High-Noise-Environment Systems
    • Monostable Multivibrators
    • Astable Multivibrators
    • NAND Logic

The CD4093B-Q1 consists of four Schmitt-trigger circuits. Each circuit functions as a two-input NAND gate, with Schmitt-trigger action on both inputs. The gate switches at different points for positive- and negative-going signals. The difference between the positive voltage (VP) and the negative voltage (VN) is defined as hysteresis voltage (VH)(see Figure 2).

The CD4093B-Q1 is available in 14-lead small-outline plastic package (M96) and 14-lead thin shrink small-outline packages (PWR suffixes).

The CD4093B-Q1 consists of four Schmitt-trigger circuits. Each circuit functions as a two-input NAND gate, with Schmitt-trigger action on both inputs. The gate switches at different points for positive- and negative-going signals. The difference between the positive voltage (VP) and the negative voltage (VN) is defined as hysteresis voltage (VH)(see Figure 2).

The CD4093B-Q1 is available in 14-lead small-outline plastic package (M96) and 14-lead thin shrink small-outline packages (PWR suffixes).
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* Hoja de datos CMOS Quad 2-Input NAND Schmitt-Trigger datasheet (Rev. A) 24/04/2008

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

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