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SN74AC10-Q1

ACTIVO

Puerta NAND automotriz de 3 canales, 3 entradas, de 1.5 V a 6 V, con capacidad de accionamiento de 2

Detalles del producto

Technology family AC Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AC Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² (5 mm × 6.4 mm) WQFN (BQA) 14 7.5 mm² (3 mm × 2.5 mm)
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Wide operating range of 1.5V to 6V
  • Inputs accept voltages up to 6V
  • Continuous ±24mA output drive at 5V
  • Supports up to ±75mA output drive at 5Vin short bursts
  • Drives 50Ω transmission lines
  • Maximum tpd of 8.5ns at 5V, 50pF load
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Wide operating range of 1.5V to 6V
  • Inputs accept voltages up to 6V
  • Continuous ±24mA output drive at 5V
  • Supports up to ±75mA output drive at 5Vin short bursts
  • Drives 50Ω transmission lines
  • Maximum tpd of 8.5ns at 5V, 50pF load

The SN74AC10-Q1 contains three independent 3-input NAND gates. The devices perform the Boolean function Y = A • B • C in positive logic.

The SN74AC10-Q1 contains three independent 3-input NAND gates. The devices perform the Boolean function Y = A • B • C in positive logic.

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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN74AC10-Q1 Automotive Triple 3-Input Positive-NAND Gates datasheet PDF | HTML 18/06/2025

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

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El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
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En inventario
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??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
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El 14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación flexible (EVM) diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian

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