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SN74AHC125

ACTIVO

Búferes de 4 canales, de 2 V a 5.5 V con salidas de 3 estados

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SN74AHC125

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Detalles del producto

Technology family AHC Number of channels 4 IOL (max) (mA) 8 Supply current (max) (µA) 40 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AHC Number of channels 4 IOL (max) (mA) 8 Supply current (max) (µA) 40 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOIC (D) 14 51.9 mm² (8.65 mm × 6 mm) WQFN (BQA) 14 7.5 mm² (3 mm × 2.5 mm) VQFN (RGY) 14 12.25 mm² (3.5 mm × 3.5 mm) SOP (NS) 14 79.56 mm² (10.2 mm × 7.8 mm) TSSOP (PW) 14 32 mm² (5 mm × 6.4 mm) PDIP (N) 14 181.42 mm² (19.3 mm × 9.4 mm) SSOP (DB) 14 48.36 mm² (6.2 mm × 7.8 mm) TVSOP (DGV) 14 23.04 mm² (3.6 mm × 6.4 mm)
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Four individual output enable pins
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Four individual output enable pins

The SNx4AHC125 devices are quadruple bus buffer gates featuring independent line drivers with 3-state outputs. Each output is disabled when the associated output-enable ( OE) input is high. When OE is low, the respective gate passes the data from the A input to its Y output.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE must be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SNx4AHC125 devices are quadruple bus buffer gates featuring independent line drivers with 3-state outputs. Each output is disabled when the associated output-enable ( OE) input is high. When OE is low, the respective gate passes the data from the A input to its Y output.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE must be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
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Documentación técnica

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Documentación principal Tipo Título Opciones de formato Descargar la versión más reciente en inglés Fecha
* Hoja de datos SNx4AHC125 Quadruple Bus Buffer Gates With 3-State Outputs datasheet (Rev. O) PDF | HTML 27/02/2024

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

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El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin plomo de 14 a 24 pines

El 14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación flexible (EVM) diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

SN74AHC125 Behavioral SPICE Model

SCLM282.ZIP (7 KB) - Modelo PSpice
Productos y hardware compatibles
Modelo de simulación

SN74AHC125 IBIS Model

SCLM079.ZIP (47 KB) - Modelo IBIS
Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian
VQFN (RGY) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SSOP (DB) 14 Ultra Librarian
TVSOP (DGV) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

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