Inicio Lógica y traducción de voltaje Compuertas lógicas Compuertas NAND
Inicio
Lógica y traducción de voltaje
Compuertas lógicas
Compuertas NAND

SN74AHCT132

ACTIVO

Puertas NAND de 4 canales, 4 entradas, 4.5 V a 5.5 V con entradas de disparador Schmitt

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

SN74AHCT132

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

Technology family AHCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family AHCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 SSOP (DB) 14 48.36 mm² 6.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 TVSOP (DGV) 14 23.04 mm² 3.6 x 6.4 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5
  • Operating range of 4.5 V to 5.5 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum I CC
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Operation from very slow input transitions
  • Temperature-compensated threshold levels
  • High noise immunity
  • Same pinouts as ’AHCT00
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Operating range of 4.5 V to 5.5 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum I CC
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Operation from very slow input transitions
  • Temperature-compensated threshold levels
  • High noise immunity
  • Same pinouts as ’AHCT00
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The ’AHCT132 devices are quadruple positive-NAND gates. These devices perform the Boolean function Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

Each circuit functions as a NAND gate, but because of the Schmitt action, it has different input threshold levels for positive- and negative-going signals. These circuits are temperature compensated and can be triggered from the slowest of input ramps and still give clean jitter-free output signals.

The ’AHCT132 devices are quadruple positive-NAND gates. These devices perform the Boolean function Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

Each circuit functions as a NAND gate, but because of the Schmitt action, it has different input threshold levels for positive- and negative-going signals. These circuits are temperature compensated and can be triggered from the slowest of input ramps and still give clean jitter-free output signals.
open-in-new Buscar otro/a Compuertas NAND
Descargar Ver vídeo con transcripción Video

Productos similares que pueden interesarle

open-in-new Comparar alternativas
Pin por pin con la misma funcionalidad que el dispositivo comparado
CD74ACT00 ACTIVO Puertas NAND de 4 canales, 2 entradas, 4,5 V a 5,5 V con entradas CMOS compatibles con TTL Higher average drive strength (24mA)

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 19
Tipo Título Fecha
* Data sheet SN54AHCT132, SN74AHCT132 Quadruple Positive-NAND GatesWith Schmitt-trigger Inputs datasheet (Rev. I) PDF | HTML 16 oct 2023
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 26 jul 2021
Selection guide Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 06 jul 2018
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note How to Select Little Logic (Rev. A) 26 jul 2016
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Product overview Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 04 nov 2004
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
Application note Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 22 jun 2004
Application note Advanced High-Speed CMOS (AHC) Logic Family (Rev. C) 02 dic 2002
Application note Texas Instruments Little Logic Application Report 01 nov 2002
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 ago 2002
Design guide AHC/AHCT Designer's Guide February 2000 (Rev. D) 24 feb 2000
Product overview Military Advanced High-Speed CMOS Logic (AHC/AHCT) (Rev. C) 01 abr 1998
Application note Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 01 dic 1997
Application note Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 01 ago 1997
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 jun 1997
Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74AHCT132 Behavioral SPICE Model

SCLM254.ZIP (7 KB) - PSpice Model
Descargar
Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 14 Ver opciones
SOIC (D) 14 Ver opciones
SOP (NS) 14 Ver opciones
SSOP (DB) 14 Ver opciones
TSSOP (PW) 14 Ver opciones
TVSOP (DGV) 14 Ver opciones
WQFN (BQA) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos