SN74ALS38B

ACTIVO

Puertas NAND bipolares de 4 canales, 2 entradas, 4.5 V a 5.5 V con salidas de colector abiertas

Detalles del producto

Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) 0 Input type Bipolar Output type Open-collector Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 75 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) 0 Input type Bipolar Output type Open-collector Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 75 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) 300-mil DIPs

 

  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) 300-mil DIPs

 

These devices contain four independent 2-input positive-NAND buffers with open-collector outputs. They perform the Boolean functions or Y = A\ + B\ in positive logic. The open-collector outputs require pullup resistors to perform correctly. These outputs may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. Open-collector devices often are used to generate higher VOH levels.

The SN54ALS38B is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ALS38B is characterized for operation from 0°C to 70°C.

These devices contain four independent 2-input positive-NAND buffers with open-collector outputs. They perform the Boolean functions or Y = A\ + B\ in positive logic. The open-collector outputs require pullup resistors to perform correctly. These outputs may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. Open-collector devices often are used to generate higher VOH levels.

The SN54ALS38B is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ALS38B is characterized for operation from 0°C to 70°C.

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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet Quadruple 2-Input Positive-NAND Buffers With Open-Collector Outputs datasheet (Rev. B) 01 dic 1994
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
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Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Application note Advanced Schottky (ALS and AS) Logic Families 01 ago 1995

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Modelo de simulación

SN74ALS38B Behavioral SPICE Model

SDAM060.ZIP (7 KB) - PSpice Model
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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