SN74F38

ACTIVO

Puertas NAND bipolares de 4 canales, 2 entradas, 4.5 V a 5.5 V con salidas de colector abiertas

Detalles del producto

Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) 0 Input type Bipolar Output type Open-collector Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) 0 Input type Bipolar Output type Open-collector Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs

These devices contain four independent 2-input NAND buffer gates with open-collector outputs. They perform the Boolean functions or Y = A\ + B\ in positive logic.

The open-collector outputs require pullup resistors to perform correctly. They may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. Open-collector devices are often used to generate higher VOH levels.

The SN54F38 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F38 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

These devices contain four independent 2-input NAND buffer gates with open-collector outputs. They perform the Boolean functions or Y = A\ + B\ in positive logic.

The open-collector outputs require pullup resistors to perform correctly. They may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. Open-collector devices are often used to generate higher VOH levels.

The SN54F38 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F38 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet Quadruple 2-Input Positive-NAND Buffers With Open-Collector Outputs datasheet (Rev. A) 01 oct 1993
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
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Application note Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 01 ago 1997
Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Modelo de simulación

SN74F38 Behavioral SPICE Model

SDFM027.ZIP (6 KB) - PSpice Model
Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 14 Ver opciones
SOIC (D) 14 Ver opciones
SOP (NS) 14 Ver opciones

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

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