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SN74HCS03-Q1

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Puertas NAND positivas de 2 entradas cuádruples con entradas de disparador Schmitt de calidad aut

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SN74HCS03-Q1

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Detalles del producto

Technology family HCS Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Open-drain Features High speed (tpd 10-50ns) Data rate (max) (Mbps) 130 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family HCS Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Open-drain Features High speed (tpd 10-50ns) Data rate (max) (Mbps) 130 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOIC (D) 14 51.9 mm² (8.65 mm × 6 mm) TSSOP (PW) 14 32 mm² (5 mm × 6.4 mm)
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • ±7.8-mA output drive at 5 V
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • ±7.8-mA output drive at 5 V

This device contains four independent 2-input NAND gates with open-drain outputs and Schmitt-trigger inputs. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic.

This device contains four independent 2-input NAND gates with open-drain outputs and Schmitt-trigger inputs. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic.
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* Hoja de datos SN74HCS03-Q1 Quadruple 2-Input Positive-NAND Gates datasheet (Rev. A) 22/10/2020

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

SN74HCS03 IBIS Model

SCLM167.ZIP (162 KB) - Modelo IBIS
Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

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