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SN74LVC10A

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Compuertas NAND de 1.65 V a 3.6 V, tres entradas y tres canales

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SN74LVC10A

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Detalles del producto

Technology family LVC Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
VQFN (RGY) 14 12.25 mm² (3.5 mm × 3.5 mm) SSOP (DB) 14 48.36 mm² (6.2 mm × 7.8 mm) TSSOP (PW) 14 32 mm² (5 mm × 6.4 mm) SOIC (D) 14 51.9 mm² (8.65 mm × 6 mm) SOP (NS) 14 79.56 mm² (10.2 mm × 7.8 mm) WQFN (BQA) 14 7.5 mm² (3 mm × 2.5 mm)
  • Operates from 1.65V to 3.6V
  • Specified from –40°C to 85°C and –40°C to 125°C
  • Inputs accept voltages to 5.5V
  • Max tpd of 4.9ns at 3.3V
  • Typical VOLP (output ground bounce) < 0.8V at VCC = 3.3V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (output VOH undershoot) > 2V at VCC = 3.3V, TA = 25°C
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000V human-body model (A114-A)
  • Operates from 1.65V to 3.6V
  • Specified from –40°C to 85°C and –40°C to 125°C
  • Inputs accept voltages to 5.5V
  • Max tpd of 4.9ns at 3.3V
  • Typical VOLP (output ground bounce) < 0.8V at VCC = 3.3V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (output VOH undershoot) > 2V at VCC = 3.3V, TA = 25°C
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000V human-body model (A114-A)

This triple 3-input positive-NAND gate is designed for 1.65V to 3.6V VCC operation.

This triple 3-input positive-NAND gate is designed for 1.65V to 3.6V VCC operation.
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* Hoja de datos SN74LVC10A Triple 3-Input Positive-NAND Gate datasheet (Rev. Q) PDF | HTML 2/08/2024

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin plomo de 14 a 24 pines

El 14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación flexible (EVM) diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

SN74LVC10A Behavioral SPICE Model

SCAM112.ZIP (8 KB) - Modelo PSpice
Productos y hardware compatibles
Modelo de simulación

SN74LVC10A IBIS Model (Rev. A)

SCEM011 (8 KB) - Modelo IBIS
Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
VQFN (RGY) 14 Ultra Librarian
SSOP (DB) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Soporte y capacitación

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El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene alguna pregunta sobre calidad, encapsulados o pedido de productos de TI, consulte el servicio de asistencia de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

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