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SN74LVC1G08B-EP

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Puerta AND simple de 2 entradas, de 1.65 V a 5.5 V de producto mejorado

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SN74LVC1G08B-EP

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Detalles del producto

Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)
  • Operating range from 1.1V to 5.5V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD 78
  • Supports defense and aerospace applications:
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Operating range from 1.1V to 5.5V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD 78
  • Supports defense and aerospace applications:
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN74LVC1G08B-EP device is a single 2-input positive-AND gate. This device performs the Boolean function Y = A • B or Y = Ā + B̅ in positive logic.

The SN74LVC1G08B-EP device is a single 2-input positive-AND gate. This device performs the Boolean function Y = A • B or Y = Ā + B̅ in positive logic.
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Documentación técnica

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Documentación principal Tipo Título Opciones de formato Descargar la versión más reciente en inglés Fecha
* Hoja de datos SN74LVC1G08B-EP Octal Buffers With 3-Stet Outputs datasheet PDF | HTML 29/06/2026
* Informe de radiación y confiabilidad SN74LVC1G08B-EP Enhanced Product Qualification and Reliability Report PDF | HTML 6/03/2026

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación de lógico genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV,de 5- a 8-pines

EVM flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV y entre 5 y 8 pines.
Guía del usuario: PDF
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

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