Inicio Lógica y traducción de voltaje Compuertas lógicas Compuertas NAND
Inicio
Lógica y traducción de voltaje
Compuertas lógicas
Compuertas NAND

SN74S37

ACTIVO

Puertas NAND bipolares de 4 canales, 2 entradas, de 4.75 V a 5.25 V

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

SN74S37

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

Technology family S Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 48 IOH (max) (mA) -1.2 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 50 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
Technology family S Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 48 IOH (max) (mA) -1.2 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 50 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Package Options Include Plastic “Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 
  • Package Options Include Plastic “Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 

These devices contain four independent 2-input NAND buffer gates.

The SN5437, SN54LS37 and SN54S37 are characterized for operation over the full military range of -55°C to 125°C. The SN7437, SN74LS37 and SN74S37 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

These devices contain four independent 2-input NAND buffer gates.

The SN5437, SN54LS37 and SN54S37 are characterized for operation over the full military range of -55°C to 125°C. The SN7437, SN74LS37 and SN74S37 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 
open-in-new Buscar otro/a Compuertas NAND
Descargar Ver vídeo con transcripción Video

Productos similares que pueden interesarle

open-in-new Comparar alternativas
Funcionalidad similar a la del dispositivo comparado
SN74AHCT02 ACTIVO Puertas NOR de 4 canales, 2 entradas, 4,5 V a 5,5 V con entradas CMOS compatibles con TTL Voltage range (4.5V to 5.5V), average drive strength (8mA), average propagation delay (9ns)
SN74HCT00 ACTIVO Puertas NAND de 4 canales, 2 entradas, 4,5 V a 5,5 V con entradas CMOS compatibles con TTL Longer average propagation delay (22ns), lower average drive strength (4mA)

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 8
Tipo Título Fecha
* Data sheet Quadruple 2-Input Positive-NAND Buffers datasheet 01 mar 1988
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74S37 Behavioral SPICE Model

SLDM013.ZIP (7 KB) - PSpice Model
Descargar
Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 14 Ver opciones
SOIC (D) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos