BQ24400
- Safe Management of Fast Charge for NiCd and NiMH Battery Packs
- High-Frequency Switching Controller for Efficient and Simple Charger Design
- Pre-Charge Qualification for Detecting Shorted, Damaged, or Overheated Cells
- Fast-Charge Termination by Peak Voltage (PVD), Maximum Temperature, and Maximum Charge Time
- Selectable Top-Off Mode for Achieving Maximum Capacity in NiMH Batteries
- Programmable Trickle-Charge Mode for Reviving Deeply Discharged Batteries and for Postcharge Maintenance
- Built-in Battery Removal and Insertion Detection
- Sleep Mode for Low Power Consumption
- APPLICATIONS
- Nickel Charger
- High-Power, Multi-Cell Charger
The bq24400 is a programmable, monolithic IC for fast-charge management of nickel cadmium (NiCd) and nickel metal-hydride (NiMH) in single or multi-cell applications.
The bq24400 provides these charge termination criteria:
- Peak voltage, PVD
- Maximum temperature
- Maximum charge time
For safety, the bq24400 inhibits fast charge until the battery voltage and temperature are within user-defined limits. If the battery voltage is below the low-voltage threshold, thebq24400 uses trickle-harge to condition the battery. For NiMH batteries, the bq24400 provides an optional top-off charge to maximize the battery capacity.
The integrated high-speed comparator allows the bq24400 to be the basis for a complete, high-efficiency battery charger circuit for nickel-based chemistries.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | Programmable NiCd / NiMH Fast-Charge Management IC データシート (Rev. A) | 2010年 2月 2日 | |||
セレクション・ガイド | 電源 IC セレクション・ガイド 2018 (Rev. R 翻訳版) | 英語版 (Rev.R) | 2018年 9月 13日 | |||
アプリケーション・ノート | U-504 Using the bq2000/T to Control Fast Charge (Rev. B) | 2004年 12月 2日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 8 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。