SN5445
FOR USE AS LAMP, RELAY, OR MOS DRIVERS
- Full Decoding of Input Logic
- 80-mA Sink-Current Capability
- All Outputs Are Off for Invalid BCD Input Conditions
featuring
These monolithic BCD-to-decimal decoders/drivers consist of eight inverters and ten four-input NAND gates. The inverters are connected in pairs to make BCD input data available for decoding by the NAND gates. Full decoding of valid BCD input logic ensures that all outputs remain off for all invalid binary input conditions. These decoders feature TTL inputs and high-performance, n-p-n output transistors designed for use as indicator/relay drivers or as open-collector logic-circuit drivers. Each of the high-breakdown output transistors (30 volts) will sink up to 80 milliamperes of current. Each input is one normalized Series 54 /74 load. Inputs and outputs are entirely compatible for use with TTL logic circuits, and the outputs are compatible for interfacing with most MOS integrated circuits. Power dissipation is typically 215 milliwatts.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | BCD-to-Decimal Decoders/Drivers データシート | 1988年 3月 1日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
アプリケーション・ノート | Designing With Logic (Rev. C) | 1997年 6月 1日 | ||||
アプリケーション・ノート | Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits | 1996年 10月 1日 | ||||
アプリケーション・ノート | Live Insertion | 1996年 10月 1日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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CDIP (J) | 16 | Ultra Librarian |
CFP (W) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点