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SN54ABT827

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ミリタリー、TTL 互換 CMOS 入力、3 ステート出力、10 チャネル、4.5V ～ 5.5V バッファ

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SN54ABT827

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製品詳細

Technology family ABT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 10 IOL (max) (mA) 64 Supply current (max) (µA) 250 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family ABT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 10 IOL (max) (mA) 64 Supply current (max) (µA) 250 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (JT) 24 221.44 mm² 32 x 6.92 CFP (W) 24 130.5324 mm² 14.36 x 9.09
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Flow-Through Architecture Optimizes PCB Layout
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Impedance State During Power Up and Power Down
  • High-Drive Outputs (-32-mA IOH, 64-mA IOL)
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (DW), Shrink Small-Outline (DB), and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Plastic (NT) and Ceramic (JT) DIPs

EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments.
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Flow-Through Architecture Optimizes PCB Layout
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Impedance State During Power Up and Power Down
  • High-Drive Outputs (-32-mA IOH, 64-mA IOL)
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (DW), Shrink Small-Outline (DB), and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Plastic (NT) and Ceramic (JT) DIPs

EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments.

These 10-bit buffers or bus drivers provide a high-performance bus interface for wide data paths or buses carrying parity.

The 3-state control gate is a 2-input AND gate with active-low inputs so that if either output-enable (OE1\ or OE2\) input is high, all ten outputs are in the high-impedance state. The 'ABT827 provide true data at the outputs.

When VCC is between 0 and 2.1 V, the device is in the high-impedance state during power up or power down. However, to ensure the high-impedance state above 2.1 V, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SN54ABT827 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ABT827 is characterized for operation from -40°C to 85°C.

These 10-bit buffers or bus drivers provide a high-performance bus interface for wide data paths or buses carrying parity.

The 3-state control gate is a 2-input AND gate with active-low inputs so that if either output-enable (OE1\ or OE2\) input is high, all ten outputs are in the high-impedance state. The 'ABT827 provide true data at the outputs.

When VCC is between 0 and 2.1 V, the device is in the high-impedance state during power up or power down. However, to ensure the high-impedance state above 2.1 V, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SN54ABT827 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ABT827 is characterized for operation from -40°C to 85°C.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54ABT827, SN74ABT827 データシート (Rev. E) 2005年 4月 6日
* SMD SN54ABT827 SMD 5962-94509 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート Quad Flatpack No-Lead Logic Packages (Rev. D) 2004年 2月 16日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Power-Up 3-State (PU3S) Circuits in TI Standard Logic Devices 2002年 5月 10日
セレクション・ガイド Advanced Bus Interface Logic Selection Guide 2001年 1月 9日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Characterization Information (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Enables Optimal System Design (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Family of Curves Demonstrating Output Skews for Advanced BiCMOS Devices (Rev. A) 1996年 12月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (JT) 24 Ultra Librarian
CFP (W) 24 Ultra Librarian
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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