ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ D タイプ・フリップ・フロップ
ホーム
ロジックと電圧変換
フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ
D タイプ・フリップ・フロップ

SN74ACT16374-EP

アクティブ

エンハンスド製品、3 ステート出力、16 ビット、D タイプ・エッジ・トリガ・フリップ・フロップ

ご注文はこちら
データシート

SN74ACT16374-EP

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Number of channels 16 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 65 IOL (max) (mA) 16 IOH (max) (mA) -16 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating HiRel Enhanced Product
Number of channels 16 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 65 IOL (max) (mA) 16 IOH (max) (mA) -16 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating HiRel Enhanced Product
SSOP (DL) 48 164.358 mm² 15.88 x 10.35
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –40°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Member of the Texas Instruments Widebus Family
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • 3-State Bus Driving True Outputs
  • Flow-Through Architecture Optimizes PCB Layout
  • Distributed VCC and GND Pins Minimize High-Speed Switching Noise

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, highly accelerated stress test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life.
Widebus is a trademark of Texas Instruments.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –40°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Member of the Texas Instruments Widebus Family
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • 3-State Bus Driving True Outputs
  • Flow-Through Architecture Optimizes PCB Layout
  • Distributed VCC and GND Pins Minimize High-Speed Switching Noise

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, highly accelerated stress test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life.
Widebus is a trademark of Texas Instruments.

The SN74ACT16374Q-EP is a 16-bit edge-triggered D-type flip-flop with 3-state outputs, designed specifically for driving highly capacitive or relatively low-impedance loads. It is particularly suitable for implementing buffer registers, I/O ports, bidirectional bus drivers, and working registers.

This device can be used as two 8-bit flip-flops or one 16-bit flip-flop. On the positive transition of the clock (CLK) input, the Q outputs of the flip-flop take on the logic levels set up at the data (D) inputs.

An output-enable (OE)\ input can be used to place the outputs in either a normal logic state (high or low logic levels) or the high-impedance state. In the high-impedance state, the outputs neither load nor drive the bus lines significantly. The high-impedance state provides the capability to drive bus lines in a bus-organized system, without need for interface or pullup components. OE\ does not affect the internal operations of the flip-flop. Old data can be retained or new data can be entered while the outputs are in the high-impedance state.

The SN74ACT16374Q-EP is a 16-bit edge-triggered D-type flip-flop with 3-state outputs, designed specifically for driving highly capacitive or relatively low-impedance loads. It is particularly suitable for implementing buffer registers, I/O ports, bidirectional bus drivers, and working registers.

This device can be used as two 8-bit flip-flops or one 16-bit flip-flop. On the positive transition of the clock (CLK) input, the Q outputs of the flip-flop take on the logic levels set up at the data (D) inputs.

An output-enable (OE)\ input can be used to place the outputs in either a normal logic state (high or low logic levels) or the high-impedance state. In the high-impedance state, the outputs neither load nor drive the bus lines significantly. The high-impedance state provides the capability to drive bus lines in a bus-organized system, without need for interface or pullup components. OE\ does not affect the internal operations of the flip-flop. Old data can be retained or new data can be entered while the outputs are in the high-impedance state.
open-in-new その他の D タイプ・フリップ・フロップ を検索
ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと類似の機能
NEW SN74LV2T74-EP アクティブ エンハンスド製品、クリアとプリセット搭載、レベル シフタ内蔵、デュアル D タイプ フリップ フロップ Voltage range (1.65V to 5.5V), voltage translation capable

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
15 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート 16-Bit D-Type Edge-Triggered Flip-Flop With 3-State Outputs データシート (Rev. B) 2002年 7月 11日
* 放射線と信頼性レポート SN74ACT16374QDLREP Reliability Report (Rev. A) 2019年 9月 23日
* VID SN74ACT16374-EP VID V6203603 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 ダウンロード
SSOP (DL) 48 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ