データシート
SN74AHCT139-Q1
- 車載アプリケーション用に AEC-Q100 認定済み：
- デバイス温度グレード 1：-40℃～+125℃
- デバイス HBM ESD 分類レベル 2
- デバイス CDM ESD 分類レベル C4B
- ウェッタブル フランク QFN パッケージで供給
- 4.5V～5.5V の VCC で動作
- TTL 互換入力
- 短い遅延、9.6ns max (VCC = 5V, CL = 50pF
- JESD 17 準拠で250mA 超のラッチアップ性能
SN74AHCT139-Q1 は 2 つの 2 ライン入力 4 ライン出力デコーダ / デマルチプレクサを内蔵しています。これらのデバイスは、伝搬遅延時間を極めて短くする必要がある、高性能メモリ デコーディングやデータ ルーティングの用途に適しています。高性能メモリ システムでは、このデコーダを使用することにより、システム デコードの影響を最小限にとどめられます。高速イネーブル回路を利用して高速メモリと組み合わせて使う場合、これらのデコーダの遅延時間とメモリのイネーブル時間は、通例、メモリの標準的なアクセス時間を下回ります。すなわち、このデコーダによる実質的なシステム遅延時間は無視できるということです。
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設計と開発
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| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
| WQFN (BQB) | 16 | Ultra Librarian |