ADS5517
- Maximum Sample Rate: 200 MSPS
- 11-Bit Resolution
- No Missing Codes
- Total Power Dissipation 1.23 W
- Internal Sample and Hold
- 67-dBFS SNR at 70-MHz IF
- 84-dBc SFDR at 70-MHz IF, 0-dB Gain
- High Analog Bandwidth up to 800 MHz
- Double Data Rate (DDR) LVDS and Parallel CMOS Output Options
- Programmable Gain up to 6 dB for SNR/SFDR Trade-Off at High IF
- Reduced Power Modes at Lower Sample Rates
- Supports Input Clock Amplitude Down to 400 mVPP
- Clock Duty Cycle Stabilizer
- No External Reference Decoupling Required
- Internal and External Reference Support
- Programmable Output Clock Position to Ease Data Capture
- 3.3-V Analog and Digital Supply
- 48-QFN Package (7 mm × 7 mm)
- APPLICATIONS
- Wireless Communications Infrastructure
- Software Defined Radio
- Power Amplifier Linearization
- 802.16d/e
- Test and Measurement Instrumentation
- High Definition Video
- Medical Imaging
- Radar Systems
ADS5517 is a high performance 11-bit, 200-MSPS A/D converter. It offers state-of-the art functionality and performance using advanced techniques to minimize board space. With high analog bandwidth and low jitter input clock buffer, the ADC supports both high SNR and high SFDR at high input frequencies. It features programmable gain options that can be used to improve SFDR performance at lower full-scale analog input ranges.
In a compact 48-pin QFN, the device offers fully differential LVDS DDR (Double Data Rate) interface while parallel CMOS outputs can also be selected. Flexible output clock position programmability is available to ease capture and trade-off setup for hold times. At lower sampling rates, the ADC can be operated at scaled down power with no loss in performance. The ADS5517 includes an internal reference, while eliminating the traditional reference pins and associated external decoupling. The device also supports an external reference mode.
The device is specified over the industrial temperature range (–40°C to 85°C).
기술 자료
| 상위 문서 | 유형 | 직함 | 형식 옵션 | 최신 영어 버전 다운로드 | 날짜 |
|---|---|---|---|---|---|
| * | 데이터 시트 | 11-Bit, 200 MSPS ADC datasheet | 2007. 12. 13 | ||
| 애플리케이션 노트 | Design Considerations for Avoiding Timing Errors during High-Speed ADC, LVDS Dat (Rev. A) | 2015. 5. 22 | |||
| 애플리케이션 노트 | Why Use Oversampling when Undersampling Can Do the Job? (Rev. A) | 2013. 7. 19 | |||
| 애플리케이션 노트 | Driving High-Speed ADCs: Circuit Topologies and System-Level Parameters (Rev. A) | 2010. 9. 10 | |||
| 애플리케이션 노트 | Smart Selection of ADC/DAC Enables Better Design of Software-Defined Radio | 2009. 4. 28 | |||
| 애플리케이션 노트 | CDCE72010 as a Clocking Solution for High-Speed Analog-to-Digital Converters | 2008. 6. 8 | |||
| 애플리케이션 노트 | Phase Noise Performance and Jitter Cleaning Ability of CDCE72010 | 2008. 6. 2 | |||
| 애플리케이션 노트 | QFN Layout Guidelines | 2006. 7. 28 |
설계 및 개발
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| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| VQFN (RGZ) | 48 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.