MMBZ15VAL-Q1
- IEC 61000-4-2 ESD protection:
- ±30kV contact discharge
- ±30kV air-gap discharge
- IEC 61643-321 surge protection:
- Up to 1.7A (10/1000µs)
- Low leakage current: 50nA (max)
- Temperature range: –55°C to +150°C
- Leaded packages used for automatic optical inspection (AOI)
- AEC-Q101 qualified
The MMBZxxVAL-Q1 is a dual channel unidirectional or single channel bidirectional ESD in common anode configuration. The device’s relatively low capacitance and low leakage features enable use in higher speed applications.
The MMBZxxVAL-Q1 is packaged in the SOT-23, providing two channels of robust transient protection in one space-efficient form factor.
기술 자료
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1개 모두 보기 | 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | MMBZxxVAL-Q1 Dual Channel Zener Diode for Automotive Applications datasheet | PDF | HTML | 2025/06/11 |
설계 및 개발
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평가 보드
ESDEVM — 0402, 0201 등을 포함한 ESD 다이오드 패키지용 범용 평가 모듈
ESD(정전기에 민감한 장치) EVM(평가 모듈)은 대부분의 ESD 포트폴리오를 위한 개발 플랫폼입니다. 이 보드에는 디바이스의 수를 테스트할 수 있도록 기존의 모든 ESD 풋프린트가 함께 제공됩니다. 장치를 적절한 풋프린트에 납땜한 후 테스트할 수 있습니다. 일반적인 고속 ESD 다이오드의 경우 S 매개 변수를 받고 보드 트레이스를 임베드하기 위해 임피던스 제어 레이아웃이 구현되어 있습니다. 비 고속 ESD 다이오드의 경우 고장 전압, 유지 전압, 누설 등의 DC 테스트를 쉽게 실행할 수 있도록 테스트 지점으로 가는 트레이스가 (...)
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBZ) | 3 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.