68-pin (HV) package image

SNJ54ACT8990HV 활성

테스트 버스 컨트롤러

활성 barcode 로트/날짜 로트 및 날짜 코드를 선택할 수 있습니다
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패키지 수량 | 캐리어 10 | TUBE
재고
수량 | 가격 100u | +

품질 정보

등급 Military
RoHS 아니요
REACH 영향 받는 항목
MSL 등급/피크 리플로우 N/A for Pkg Type
품질, 신뢰성
및 패키징 정보

포함된 정보:

  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
보기 또는 다운로드
추가 제조 정보

포함된 정보:

  • 팹 위치
  • 조립 위치
보기

수출 분류

*참조 목적

  • US ECCN: EAR99

자세한 SN54ACT8990 정보

패키징 정보

패키지 | 핀 CFP (HV) | 68
작동 온도 범위(°C) -55 to 125
패키지 수량 | 캐리어 10 | TUBE

SN54ACT8990의 주요 특징

  • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family of Testability Products
  • Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
  • Control Operation of Up to Six Parallel Target Scan Paths
  • Accommodate Pipeline Delay to Target of Up to 31 Clock Cycles
  • Scan Data Up to 232 Clock Cycles
  • Execute Instructions for Up to 232 Clock Cycles
  • Each Device Includes Four Bidirectional Event Pins for Additional Test Capability
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • EPICTM (Enhanced-Performance Implanted CMOS) 1-m Process
  • Packaged in 44-Pin Plastic Leaded Chip Carrier (FN), 68-Pin Ceramic Pin Grid Array (GB), and 68-Pin Ceramic Quad Flat Packages (HV)

    SCOPE and EPIC are trademarks of Texas Instruments Incorporated.

SN54ACT8990에 대한 설명

The 'ACT8990 test-bus controllers (TBC) are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of components supports IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. The 'ACT8990 differ from other SCOPETM integrated circuits. Their function is to control the JTAG serial-test bus rather than being target boundary-scannable devices.

The required signals of the JTAG serial-test bus - test clock (TCK), test mode select (TMS), test data input (TDI), and test data output (TDO) can be connected from the TBC to a target device without additional logic. This is done as a chain of IEEE Standard 1149.1-1990 boundary-scannable components that share the same serial-test bus. The TBC generates TMS and TDI signals for its target(s), receives TDO signals from its target(s), and buffers its test clock input (TCKI) to a test clock output (TCKO) for distribution to its target(s). The TMS, TDI, and TDO signals can be connected to a target directly or via a pipeline, with a retiming delay of up to 31 bits. Since the TBC can be configured to generate up to six separate TMS signals [TMS (5-0)], it can be used to control up to six target scan paths that are connected in parallel (i.e., sharing common TCK, TDI, and TDO signals).

While most operations of the TBC are synchronous to TCKI, a test-off (TOFF\) input is provided for output control of the target interface, and a test-reset (TRST\) input is provided for hardware/software reset of the TBC. In addition, four event [EVENT (3-0)] I/Os are provided for asynchronous communication to target device(s). Each event has its own event generation/detection logic, and detected events can be counted by two 16-bit counters.

The TBC operates under the control of a host microprocessor/microcontroller via the 5-bit address bus [ADRS (4-0)] and the 16-bit read/write data bus [DATA (15-0)]. Read (RD\) and write (WR\) strobes are implemented such that the critical host-interface timing is independent of the TCKI period. Any one of 24 registers can be addressed for read and/or write operations. In addition to control and status registers, the TBC contains two command registers, a read buffer, and a write buffer. Status of the TBC is transmitted to the host via ready (RDY\) and interrupt (INT\) outputs.

Major commands can be issued by the host to cause the TBC to generate the TMS sequences necessary to move the target(s) from any stable test-access-port (TAP) controller state to any other stable TAP state, to execute instructions in the Run-Test/Idle TAP state, or to scan instruction or test data through the target(s). A 32-bit counter can be preset to allow a predetermined number of execution or scan operations.

Serial data that appears at the selected TDI input (TDI1 or TDI0) is transferred into the read buffer, which can be read by the host to obtain up to 16 bits of the serial-data stream. Serial data that is transmitted from the TDO output is written by the host to the write buffer.

 

The SN54ACT8990 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ACT8990 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

 

 

 

NC - No internal connection

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패키지 수량 | 캐리어 10 | TUBE
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캐리어 옵션

전체 릴, 맞춤형 수량의 릴, 절단 테이프, 튜브, 트레이 등 부품 수량에 따라 다양한 캐리어 옵션을 선택할 수 있습니다.

맞춤형 릴은 한 릴에서 절단 테이프의 연속 길이로, 로트 및 날짜 코드 추적 기능을 유지하여 요청한 정확한 양을 유지합니다. 업계 표준에 따라, 황동 심으로 절단 테이프 양쪽에 18인치 리더와 트레일러를 연결하여 자동화 조립 기계에 직접 공급합니다. TI는 맞춤형 수량의 릴 주문 시 릴 요금을 부과합니다.

절단 테이프란 릴에서 잘라낸 테이프 길이입니다. TI는 요청 수량을 맞추기 위해 여러 가닥의 절단 테이프 또는 박스를 사용하여 주문을 이행할 수 있습니다.

TI는 종종 재고 가용성에 따라 튜브 또는 트레이 디바이스를 박스나 튜브 또는 트레이로 배송합니다. TI는 내부 정전 방전 및 습도 민감성 수준 보호 요구 사항에 따라 모든 테이프, 튜브 또는 샘플 박스를 포장합니다.

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로트 및 날짜 코드를 선택할 수 있습니다

장바구니에 수량을 추가하고 결제 프로세스를 시작하여 기존 재고에서 로트 또는 날짜 코드를 선택할 수 있는 옵션을 확인합니다.

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