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TLC372

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雙路通用型 LinCMOS™ 差動比較器

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具備升級功能，可直接投入使用替代所比較的裝置。
TLV1842 現行 雙路、高速高電壓汲極斷路比較器 Faster nanosecond upgrade with increased precision and wider voltage range

TLC372

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產品詳細資料

Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.2 Vs (max) (V) 16 Vs (min) (V) 3 Rating Catalog Iq per channel (typ) (mA) 0.075 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 0.03 VICR (max) (V) 15 VICR (min) (V) 0
Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.2 Vs (max) (V) 16 Vs (min) (V) 3 Rating Catalog Iq per channel (typ) (mA) 0.075 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 0.03 VICR (max) (V) 15 VICR (min) (V) 0
SOIC (D) 8 29.4 mm² (4.9 mm × 6 mm) TSSOP (PW) 8 19.2 mm² (3 mm × 6.4 mm) SOP (PS) 8 48.36 mm² (6.2 mm × 7.8 mm) PDIP (P) 8 92.5083 mm² (9.81 mm × 9.43 mm)
  • Single or dual-supply operation
  • Wide range of supply voltages: 3V to 16V
  • Low supply current drain 150µA typical at 5V
  • Fast response time: 200ns typical for TTL-Level input step
  • Built-in ESD protection
  • High input impedance: 1012Ω typical
  • Extremely low input bias current: 5pA typical
  • Ultra-stable low input offset voltage
  • Common-mode input voltage range includes ground
  • Output compatible with TTL, MOS, and CMOS
  • Pin-compatible with LM393
  • Single or dual-supply operation
  • Wide range of supply voltages: 3V to 16V
  • Low supply current drain 150µA typical at 5V
  • Fast response time: 200ns typical for TTL-Level input step
  • Built-in ESD protection
  • High input impedance: 1012Ω typical
  • Extremely low input bias current: 5pA typical
  • Ultra-stable low input offset voltage
  • Common-mode input voltage range includes ground
  • Output compatible with TTL, MOS, and CMOS
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* 資料表 TLC372 Dual Differential Comparators datasheet (Rev. F) PDF | HTML 2025/6/24
電子書 The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics PDF | HTML 2017/3/28

設計與開發

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開發板

AMP-PDK-EVM — 放大器性能開發套件評估模組

放大器性能開發套件 (PDK) 是一款評估模組 (EVM) 套件，可測試通用運算放大器 (op amp) 參數，並與大多數運算放大器和比較器相容。EVM 套件提供主板和多個插槽式子卡選項，可滿足封裝需求，使工程師能夠快速評估和驗證裝置性能。

AMP-PDK-EVM 套件支援五種最熱門的業界標準封裝，包括：

  • D (SOIC-8 和 SOIC-14)
  • PW (TSSOP-14)
  • DGK (VSSOP-8)
  • DBV (SOT23-5 和 SOT23-6)
  • DCK (SC70-5 和 SC70-6)
使用指南: PDF | HTML
支援產品和硬體
模擬型號

TLC372 PSpice Model

SLCJ027.ZIP (0 KB) - PSpice 模型
支援產品和硬體
參考設計

TIDA-00201 — 適用於使用 Fluxgate 感測器量測電流和電壓的差動訊號調節電路

此設計提供 4 通道訊號調節解決方案，適用於整合至微控制器中的差動 ADC，該微控制器使用磁通量閘門感測器測量馬達電流。另外也提供配備外部差動 SAR ADC 的替代量測電路，以及用於高速過電流和接地故障偵測的電路。適當的差動訊號調整可改善馬達驅動器關鍵電流量測的雜訊抗擾度。此參考設計可幫助提升類比轉數位轉換的有效解析度，進而提升馬達驅動效率。

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參考設計

TIDA-00208 — 適用於使用 Fluxgate 感測器量測電流和電壓的單端訊號調節電路

此設計提供 4 通道訊號調節解決方案，適用於整合至微控制器中的單端 SAR ADC，該微控制器使用磁通量閘門感測器測量馬達電流。另外也提供配備外部 SAR ADC 的替代量測電路，以及用於高速過電流和接地故障偵測的電路。適當的訊號調整可改善馬達驅動器關鍵電流量測的雜訊抗擾度。此參考設計可幫助提升類比轉數位轉換的有效解析度，進而提升馬達驅動效率。

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參考設計

TIDA-00366 — 具有電流、電壓和溫度保護功能的強化型隔離式三相逆變器參考設計

此參考設計提供額定值高達 10kW 的三相逆變器，採用強化型隔離式閘極驅動器 UCC21530、強化型隔離式放大器 AMC1301 和 AMC1311 以及 MCU TMS320F28027 進行設計。使用 AMC1301 測量與 MCU 內部 ADC 介接的馬達電流，以及使用自舉式電源供應器為 IGBT 閘極驅動器供電，即可降低系統成本。此逆變器旨在為過載、短路、接地故障、DC 匯流排欠電壓與過電壓，以及 IGBT 模組過熱提供保護。

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參考設計

TIDA-00439 — 適用於由 100/110Vac 電源供電之逆變器的分流架構接地故障防護參考設計

這是用於檢測逆變器驅動裝置中接地故障的參考設計。使用並聯電阻器在 DC 正極和 DC 負極匯流排上測量逆變器電流。採用共模電壓範圍為 +275V 的 INA149 電流偵測放大器來測量 DC 正極匯流排上的電流。DC 負極匯流排上的電流則以精準運算放大器進行偵測。使用高速比較器將兩個測量電流之間的差異與固定閾值進行比較，以確定接地故障情況。

支援產品和硬體
參考設計

TIDA-00442 — 適用於由 220Vac 電源供電之逆變器的分流架構接地故障防護參考設計

此參考設計用於檢測逆變器驅動裝置中的接地故障。使用並聯電阻器在 DC 正極和 DC 負極匯流排上測量逆變器電流。使用 INA170 測量 DC 正極匯流排上的電流，它由低壓側開關降壓轉換器供電。使用精密運算放大器感測 DC 負極匯流排上的電流。使用高速比較器將兩個測量電流之間的差異與固定閾值進行比較，以確定接地故障情況。

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參考設計

TIDA-01540 — 使用具有內建失效時間插入功能的閘極驅動器的三相反相器參考設計

TIDA-01540 參考設計可降低系統成本，並實現強化型隔離式 10kW 三相逆變器的精巧設計。透過使用單一封裝中的雙閘極驅動器和自舉式配置，為閘極驅動器電源產生浮動電壓，實現更低的系統成本和更精巧的外型尺寸。雙閘極驅動器 UCC21520 內建可透過電阻器選項配置的失效時間插入功能。獨特的失效時間插入功能可保護三相逆變器，防止因輸入 PWM 訊號重疊而導致擊穿。透過在硬體中實作過載、短路、接地故障、DC 匯流排欠電壓與過電壓、以及 IGBT 模組過熱保護，可提升系統可靠性。
支援產品和硬體
參考設計

TIDA-01541 — 適用於三相位逆變器的高頻寬相位電流和 DC 鏈路電壓感測參考設計

TIDA-01541 參考設計可降低系統成本，實現三相逆變器中隔離相位電流和 DC 鏈路電壓量測的精巧設計，同時實現高頻寬和感測準確度。隔離放大器的輸出透過差動至單端電路介接至 MCU 的內部 ADC。透過使用隔離式放大器，即可在 MCU 內使用 SAR ADC，進而降低系統成本，而無需在電流感測上做任何取捨。8 接腳封裝可縮減電路板外型尺寸。隔離式放大器的高頻寬可在 3.5µs 內保護 IGBT，高性能規格則可進行高準確度電流與電壓量測。DC 鏈路電壓量測是以高輸入阻抗完成，以避免因高電壓分壓器而受到來源阻抗影響，進而提升準確度。
支援產品和硬體
封裝 針腳 CAD 符號、佔位空間與 3D 模型
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 8 Ultra Librarian
SOP (PS) 8 Ultra Librarian
PDIP (P) 8 Ultra Librarian
適用 TI 的評估品項標準條款與條件。

訂購與品質

建議產品可能具有與此 TI 產品相關的參數、評估模組或參考設計。

支援與培訓

內含 TI 工程師技術支援的 TI E2E™ 論壇

以英文檢視所有論壇主題

內容係由 TI 和社群貢獻者依「現狀」提供，且不構成 TI 規範。檢視使用條款。

若有關於品質、封裝或訂購 TI 產品的問題，請參閱 TI 支援。​​​​​​​​​​​​​​

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