El diseño de referencia TIDA-00810 mide con precisión el rendimiento de las entradas analógicas e incluye diagnósticos de chip para ayudar a identificar tempranamente las fallas de los sistemas de alimentación mediante el uso de un extremo frontal analógico (AFE) de medición de corriente y tensión de CA de alta precisión y un convertidor analógico a digital (ADC) Delta-Sigma de entrada diferencial de muestreo simultáneo de cuatro canales y 24 bits para mediciones en un amplio rango dinámico. El convertidor analógico a digital (ADC) está configurado para medir de 0 a 5 V. unipolar. Las entradas se escalan al rango de medición del convertidor analógico a digital (ADC) mediante un amplificador de ganancia fija con cambio de nivel de salida de 2.5 V CC. El extremo frontal analógico (AFE) se puede utilizar para medir la salida de un transformador de corriente, un divisor de potencial con aislamiento analógico y un integrador activo Rogowski. El extremo frontal analógico (AFE) utiliza un convertidor analógico a digital (ADC) de registro de aproximación sucesiva (SAR) de baja resolución de 10 bits en paralelo con un convertidor analógico a digital (ADC) ∑-∆ de 24 bits para el diagnóstico de ADS131A04.
Se desarrolló una placa completamente integrada únicamente para pruebas y validación de rendimiento y no está disponible para la venta.
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Descripción general del diseño de referencia y datos de las pruebas de rendimiento verificadas
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Fichero de diseño que contiene información sobre la capa física de la PCB de diseño
Archivo de trazado de capas de PCB para generar el trazado del diseño de PCB
Diagrama esquemático detallado del diseño y los componentes
Incluye productos de TI en el diseño y posibles alternativas.
| Tipo | Título | Descargar la versión más reciente en inglés | Fecha | ||
|---|---|---|---|---|---|
| * | Guía de diseño | Ref Design to Measure AC Volt and Curr in Protection Relay w/ DS Chip Diagnostic (Rev. A) | 15/11/2016 | ||
| Artículo técnico | Exploring high-voltage transmission – part 1, line-commutated converters | PDF | HTML | 7/03/2017 |
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