Este diseño de fuente de alimentación es un resumen del informe de prueba del árbol de alimentación semidiscreto de TI para el (sistema en chip) SoC Mobileye EyeQ6Lite®. Las aplicaciones automotrices, como los sistemas autónomos de asistencia a la conducción (ADAS), utilizan procesadores de controlador de dominio ADAS como Mobileye EyeQ6L. Se trata de procesadores sofisticados que requieren una cantidad muy alta de corriente a tensiones muy bajas. Estos procesadores también requieren una respuesta transitoria muy rápida de la tensión de salida para cambios de paso en la corriente de carga del procesador.
Este diseño de fuente de alimentación cumple con los estrictos requisitos de respuesta transitoria rápida de una manera eficiente y rentable. El enfoque semidiscreto que se muestra a continuación, que consta de un circuito integrado de administración de potencia (PMIC) junto con reguladores discretos, permite la colocación óptima de convertidores de punto de carga al tiempo que ofrece un tamaño de solución pequeño con una capacitancia de salida mínima.
El circuito integrado de administración de potencia (PMIC) también se utiliza para manejar la secuencia de encendido y apagado, que es la temporización basada en esta implementación. Todos los carriles de alimentación se supervisan mediante la combinación del circuito integrado de administración de potencia (PMIC) junto con un supervisor de tensión con capacidad de seguridad funcional, ambos configurados en las ventanas de supervisión necesarias para cada carril individual.
El diseño de placa de circuito impreso (PCB) de esta solución de alimentación se mantuvo lo más cerca posible de una aplicación del mundo real, incluido el número de capas recomendado, la pila y el tamaño de los componentes para proporcionar datos de rendimiento fiables medidos en condiciones realistas.
Todas las tensiones de alimentación de este diseño, así como la secuencia de potencia, se ponen a prueba para cumplir los requisitos del SoC Mobileye EyeQ6L. Póngase en contacto con su representante local de Texas Instruments para acceder al informe de prueba completo.