JAJSQR2 july   2023 AFE7953

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1特長
  3. 2アプリケーション
  4. 3概要
  5. 4概要 (続き)
  6. 5改訂履歴
  7. 6仕様
    1. 6.1  絶対最大定格
    2. 6.2  ESD 定格
    3. 6.3  推奨動作条件
    4. 6.4  熱に関する情報 AFE79xx
    5. 6.5  トランスミッタの電気的特性
    6. 6.6  RF ADC の電気的特性
    7. 6.7  PLL / VCO / クロックの電気的特性
    8. 6.8  デジタルの電気的特性
    9. 6.9  電源の電気的特性
    10. 6.10 タイミング要件
    11. 6.11 スイッチング特性
    12. 6.12 代表的特性
      1. 6.12.1  TX の代表的特性 (800MHz 時)
      2. 6.12.2  TX の代表的特性 (1.8GHz 時)
      3. 6.12.3  TX の代表的特性 (2.6GHz 時)
      4. 6.12.4  TX の代表的特性 (3.5GHz 時)
      5. 6.12.5  TX の代表的特性 (4.9GHz 時)
      6. 6.12.6  TX の代表的特性 (8.1GHz 時)
      7. 6.12.7  TX の代表的特性 (9.6GHz 時)
      8. 6.12.8  RX の代表的特性 (800MHz 時)
      9. 6.12.9  RX の代表的特性 (1.75～1.9GHz 時)
      10. 6.12.10 RX の代表的特性 (3.5GHz 時)
      11. 6.12.11 RX の代表的特性 (2.6GHz 時)
      12. 6.12.12 RX の代表的特性 (4.9GHz 時)
      13. 6.12.13 RX の代表的特性 (8.1GHz 時)
      14. 6.12.14 RX の代表的特性 (9.6GHz 時)
      15. 6.12.15 PLL およびクロックの代表的特性
  8. 7デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 7.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 7.2 サポート・リソース
    3. 7.3 商標
    4. 7.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 7.5 用語集
  9. 8メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.1 絶対最大定格

自由気流での動作温度範囲内 (特に記述のない限り) (1)
最小値 最大値 単位
電源電圧範囲 DVDD0P9、VDDT0P9 -0.3 1.2 V
VDD1P2RX、VDD1P2TXCLK、VDD1P2TXENC、VDD1P2PLL、VDD1P2PLLCLKREF、VDD1P2FB、VDD1P2FBCML、VDD1P2RXCML -0.3 1.4 V
VDD1P8RX、VDD1P8RXCLK、VDD1P8TX、VDD1P8TXDAC、VDD1P8TXENC、VDD1P8PLL、VDD1P8PLLVCO、VDD1P8FB、VDD1P8FBCLK、VDD1P8GPIO、VDDA1P8 -0.5 2.1 V
ピン電圧範囲 {1/2}RXIN+/- -0.5 VDDRX1P8+0.3 V
{1/2}TXOUT+/- -0.5 VDDTX1P8+0.3 V
REFCLK+/-、SYSREF+/- -0.3 1.4 V
{1：8}SRX+/- -0.3 1.4 V
{1：8}STX+/- -0.3 1.4 V
GPIO{B/C/D/E}x、SPICLK、SPISDIO、SPISDO、SPISEN、RESET、BISTB0、BISTB1 -0.5 VDD1P8GPIO + 0.3 V
IFORCE、VSENSE -0.3 VDDCLK1P8 + 0.3 V
SRDAMUX1、SRDAMUX2 -0.3 VDDA1P8+0.3 V
ピーク入力電流 任意の入力 20 mA
TJ 接合部温度 150 ℃
Tstg 保存温度 -65 150 ℃
(1) 絶対最大定格を上回るストレスが加わった場合、デバイスに永続的な損傷が発生する可能性があります。これはストレスの定格のみについての話で、絶対最大定格において、またはこのデータシートの「推奨動作条件」に示された値を超える他のいかなる条件でも、本製品が正しく動作することを暗に示すものではありません。絶対最大定格の状態が長時間続くと、デバイスの信頼性に影響を与える可能性があります。