JAJSK40F May   2009  – January 2023 TCA6416A

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 Revision History
  5. 5 Pin Configuration and Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 I2C Interface Timing Requirements
    7. 6.7 Reset Timing Requirements
    8. 6.8 Switching Characteristics
    9. 6.9 Typical Characteristics
  7. 7 Parameter Measurement Information
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagrams
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Voltage Translation
      2. 8.3.2 I/O Port
      3. 8.3.3 Interrupt Output ( INT)
      4. 8.3.4 Reset Input ( RESET)
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Power-On Reset
    5. 8.5 Programming
      1. 8.5.1 I2C Interface
    6. 8.6 Register Maps
      1. 8.6.1 Device Address
      2. 8.6.2 Control Register and Command Byte
      3. 8.6.3 Register Descriptions
      4. 8.6.4 Bus Transactions
        1. 8.6.4.1 Writes
        2. 8.6.4.2 Reads
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.2.1 Minimizing ICC When I/Os Control LEDs
      3. 9.2.3 Application Curves
  10. 10Power Supply Recommendations
    1. 10.1 Power-On Reset Requirements
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 12.2 サポート・リソース
    3. 12.3 商標
    4. 12.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 12.5 用語集
  13. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

12.4 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。