JADA229 July   2026 ADS125H18 , ISO7721 , ISO7730 , ISO7731 , SN6505B , SN74LVC1G17 , TUSB320 , TVS3301

1.   1
2.   概要
3.   商標
4. 1設計の概要と測定性能 (通常動作)
   1. 1.1 設計の概要
   2. 1.2 通常動作時の EMC 試験基板の電圧測定性能
   3. 1.3 通常動作時における EMC 試験基板の電流測定性能
5. 2EMC 試験基板の回路と PCB レイアウトに関する考慮事項
   1. 2.1 EMC 準拠の回路設計上の検討事項
      1. 2.1.1 各入力コネクタ ピン上の高電圧コンデンサおよび抵抗
      2. 2.1.2 TVS ダイオード
      3. 2.1.3 電流シャントの保護：PTC およびツェナー ダイオード
      4. 2.1.4 デジタル信号の直列抵抗
      5. 2.1.5 デジタル アイソレーション
      6. 2.1.6 電源および保護
      7. 2.1.7 放電パスの高電圧コンデンサおよび抵抗
   2. 2.2 EMC 準拠のための PCB レイアウトに関する考慮事項
      1. 2.2.1 PCB 層の積層とグランド プレーン
      2. 2.2.2 長い帰路の回避
      3. 2.2.3 PCB パターンの 90 度の屈曲を回避する
      4. 2.2.4 ガード リングを使用して干渉信号を絶縁する
      5. 2.2.5 デカップリング コンデンサ
      6. 2.2.6 差動信号の配線
      7. 2.2.7 スティッチング ビア
      8. 2.2.8 絶縁バリアのレイアウト
      9. 2.2.9 部品の配置
6. 3EMC 試験システム、規格、および結果
   1. 3.1 EMC 試験システム
   2. 3.2 EMC 試験規格
   3. 3.3 EMC テスト結果
      1. 3.3.1 静電気放電 (ESD)
      2. 3.3.2 放射耐性 (RI)
      3. 3.3.3 電気的高速過渡現象 (EFT)
      4. 3.3.4 サージ耐性 (SI)
      5. 3.3.5 伝導耐性 (CI)
7. 4回路図、PCB レイアウト、部品表
   1. 4.1 回路図
   2. 4.2 PCB レイアウト
   3. 4.3 部品表 (BOM)
8. 5まとめ
9. 6参考資料