JADA265 July   2026 F28377D-SEP , INA901-SP , SN54SLC8T245-SEP , TPS7A4501-SP , TPS7H1121-SEP , TPS7H1121-SP , TPS7H5020-SEP , TPS7H5020-SP , TPS7H6101-SEP

 

  1.   1
  2.   概要
  3. 1概要
  4. 2宇宙 - 電子設計の全体像
  5. 3単一の管理されたベースラインの重要性
  6. 4COTS デバイスを追加スクリーニングするための手順
    1. 4.1 ステップ 1 – 候補を特定する
    2. 4.2 ステップ 2 – シングル イベント効果 (SEE) 試験の準備 (開封)
    3. 4.3 ステップ 3 –シングル イベント効果 (SEE) テスト
    4. 4.4 ステップ 4 – TID 試験の実施および放射線寿命の評価
  7. 5リード タイムと歩留まりの責任
  8. 6まとめ
  9. 7参考資料
Technical White Paper

宇宙用の IC 調達：COTS 部品の追加スクリーニングと宇宙用途向け強化製品 (SEP) の長所と短所

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