JAJAAD4A September   2011  – December 2025 CC1100 , CC1101 , CC2500 , CC2510 , CC2520 , CC2530 , CC2530-RF4CE , CC2540 , CC2540T , CC2541 , CC2541-Q1

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   商標
  4. 1はじめに
    1. 1.1 略称
  5. 2規格とシステム要件
    1. 2.1 規格
    2. 2.2 テスト装置サプライヤ
    3. 2.3 無線認証の URL
  6. 3テスト装置要件
    1. 3.1 システムのセットアップ
      1. 3.1.1 伝導型テスト システム
      2. 3.1.2 放射型テスト システム
    2. 3.2 テストの初期検討事項
    3. 3.3 テストに関する注意事項
  7. 4ソフトウェアの設定
    1. 4.1 SmartRF Studio 7
      1. 4.1.1 SmartRF Studio 7 のスタートアップ ウィンドウ
      2. 4.1.2 SmartRF Studio 7 のモード
      3. 4.1.3 SmartRF Studio 7 のデバイス コントロール パネル
      4. 4.1.4 SmartRF Studio 7 ソフトウェア ユーザー マニュアル
    2. 4.2 SmartRF Studio 8
      1. 4.2.1 SmartRF Studio 8 のスタートアップ ウィンドウ
      2. 4.2.2 SmartRF Studio 8 の無線制御ウィンドウ
      3. 4.2.3 SmartRF Studio 8 ソフトウェア ユーザー ガイド
  8. 5DUT およびテスト装置情報
    1. 5.1 DUT
    2. 5.2 テスト装置
  9. 6クロック周波数のチューニング
    1. 6.1 内部コンデンサ アレイを使用した HF クロック チューニング
    2. 6.2 LF クロック チューニング
  10. 7送信テスト
    1. 7.1 送信電力
    2. 7.2 電力スペクトル密度マスク
    3. 7.3 誤差ベクトルの振幅
    4. 7.4 送信中心周波数オフセット
    5. 7.5 スプリアス放射
  11. 8受信テスト
    1. 8.1 レシーバ感度
    2. 8.2 干渉テスト
    3. 8.3 RF ジェネレータを使用した干渉テスト
  12.   付録 A オフセット EVM と EVM の比較
  13.   B 参考資料
  14.   B 改訂履歴
User's Guide

CCxxxx デバイスの RF テストの基礎

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