JAJSVN2F July   2008  – September 2025 ISO721-Q1 , ISO722-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. デバイス比較表
  6. ピン構成および機能
  7. 仕様
    1. 6.1  絶対最大定格
    2. 6.2  推奨動作条件
    3. 6.3  熱に関する情報
    4. 6.4  電力定格
    5. 6.5  絶縁仕様
    6. 6.6  安全関連認証
    7. 6.7  安全限界値
    8. 6.8  電気的特性:5V 動作時の VCC1 と VCC2
    9. 6.9  電気的特性:3.3V 動作時の VCC1 と VCC2
    10. 6.10 電気的特性:3.3V 動作時の VCC1、5V 動作時の VCC2
    11. 6.11 電気的特性:5V 動作時の VCC1、3.3V 動作時の VCC2
    12. 6.12 スイッチング特性:5V 動作時の VCC1 と VCC2
    13. 6.13 スイッチング特性:3.3V 動作時の VCC1 と VCC2
    14. 6.14 スイッチング特性:3.3V 動作時の VCC1、5V 動作時の VCC2
    15. 6.15 スイッチング特性:5V 動作時の VCC1、3.3V 動作時の VCC2
    16. 6.16 代表的特性
    17. 6.17 絶縁特性曲線
  8. パラメータ測定情報
  9. 詳細説明
    1. 8.1 概要
    2. 8.2 機能ブロック図
    3. 8.3 デバイスの機能モード
      1. 8.3.1 デバイス I/O 回路図
  10. アプリケーションと実装
    1. 9.1 アプリケーション情報
    2. 9.2 代表的なアプリケーション
      1. 9.2.1 設計要件
      2. 9.2.2 詳細な設計手順
    3. 9.3 電源に関する推奨事項
    4. 9.4 レイアウト
      1. 9.4.1 レイアウトのガイドライン
        1. 9.4.1.1 PCB 材料
      2. 9.4.2 レイアウト例
  11. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 デバイス サポート
      1. 10.1.1 開発サポート
    2. 10.2 ドキュメントのサポート
      1. 10.2.1 関連資料
    3. 10.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 10.4 サポート・リソース
    5. 10.5 商標
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 用語集
  12. 11改訂履歴
  13. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

パラメータ測定情報

ISO721-Q1 ISO722-Q1 スイッチング特性試験回路と電圧波形図 7-1 スイッチング特性試験回路と電圧波形
ISO721-Q1 ISO722-Q1 ISO722-Q1 スリープ モード高レベル出力試験回路および電圧波形図 7-2 ISO722-Q1 スリープ モード高レベル出力試験回路および電圧波形
ISO721-Q1 ISO722-Q1 ISO722-Q1 のスリープ モード低レベル出力テスト回路と電圧波形図 7-3 ISO722-Q1 のスリープ モード低レベル出力テスト回路と電圧波形
注:

A: 入力パルスは、以下の特性を持つジェネレータから供給されます。

PRR ≤ 50kHz、50% デューティ サイクル、tr ≤ 3ns、tf ≤ 3ns、ZO = 50Ω。

B:CL = 15pF ± 20%、測定機器および治具の容量を含みます。

ISO721-Q1 ISO722-Q1 フェイルセーフ遅延時間試験回路および電圧波形
注:VI 遷移時間は 100ns です。
図 7-4 フェイルセーフ遅延時間試験回路および電圧波形
ISO721-Q1 ISO722-Q1 同相モード過渡耐性試験回路と電圧波形
注:合格 / 不合格基準は VO の変化ではありません。
図 7-5 同相モード過渡耐性試験回路と電圧波形
ISO721-Q1 ISO722-Q1 ピーク ツー ピーク アイパターン ジッタ テスト回路と電圧波形
注:ビット パターンの実行長は 216–1 です。遷移時間は 800ps です。NRZ データ入力では、連続する 1 または 0 が 5 ビットを超えないようにします。
図 7-6 ピーク ツー ピーク アイパターン ジッタ テスト回路と電圧波形