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SN74LVC1G08-Q1

ACTIVO

Compuerta AND automotriz de 1 canal y 2 entradas de 1.65 V a 5.5 V y 32 mA de potencia de accionamie

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NUEVO SN74LVC1G08B-Q1 ACTIVO Puerta AND automotriz de un canal, 2 entradas, de 1.1 V a 5.5 V y capacidad de conducción de 32 mA Drop-in replacement with 1.1-V to 5.5-V supply voltage range.

SN74LVC1G08-Q1

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Detalles del producto

Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
USON (DRY) 6 1.45 mm² (1.45 mm × 1 mm) SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm) SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² (2 mm × 2.1 mm)
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
  • Supports operation: 5V VCC
  • Over-voltage tolerant inputs accept voltages: to 5.5V
  • Provides down translation: to VCC
  • Low power consumption: 10µA maximum ICC
  • ±24mA output drive at 3.3V
  • Ioff supports live insertion, partial-power-down mode, and back drive protection
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78, Class II
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
  • Supports operation: 5V VCC
  • Over-voltage tolerant inputs accept voltages: to 5.5V
  • Provides down translation: to VCC
  • Low power consumption: 10µA maximum ICC
  • ±24mA output drive at 3.3V
  • Ioff supports live insertion, partial-power-down mode, and back drive protection
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78, Class II

This single 2-input positive-AND gate is designed for 1.65V to 5.5V VCC operation.

The SN74LVC1G08-Q1 device performs the Boolean function or Y = A · B or Y = Ā + B̅ in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using I off. The I off circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when powered down.

The CMOS device has high output drive while maintaining low static power dissipation over a broad VCC operating range.

The SN74LVC1G08-Q1 is available in a variety of packages, including the small DRY package with a body size of 1.45mm × 1.00mm.

This single 2-input positive-AND gate is designed for 1.65V to 5.5V VCC operation.

The SN74LVC1G08-Q1 device performs the Boolean function or Y = A · B or Y = Ā + B̅ in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using I off. The I off circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when powered down.

The CMOS device has high output drive while maintaining low static power dissipation over a broad VCC operating range.

The SN74LVC1G08-Q1 is available in a variety of packages, including the small DRY package with a body size of 1.45mm × 1.00mm.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN74LVC1G08-Q1 Single 2-Input Positive-AND Gate datasheet (Rev. H) PDF | HTML 14/08/2026
Application brief Optimizing ADAS Domain Controllers Using Logic and Translation PDF | HTML 13/07/2023
Product overview Generate an Enable Signal that can be Toggled PDF | HTML 14/06/2023
Información sobre seguridad funcional SN74LVC1G08-Q1 Functional Safety FIT Rate and Failure Mode Distribution 30/12/2019
Más documentación Automotive Logic Devices Brochure 27/08/2014

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación de lógico genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV,de 5- a 8-pines

EVM flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV y entre 5 y 8 pines.
Guía del usuario: PDF
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Placa de evaluación

5-8-NL-LOGIC-EVM — EVM genérico de lógica y traducción compatible con paquetes DPW, DQE, DRY, DSF, DTM, DTQ y DTT de 5

EVM genérico diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de conversión que tenga un encapsulado DTT, DRY, DPW, DTM, DQE, DQM, DSF o DTQ. El diseño del tablero permite una evaluación flexible.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Placa de evaluación

DIP-ADAPTER-EVM — Módulo de evaluación de adaptador DIP

Speed up your op amp prototyping and testing with the DIP-Adapter-EVM, which provides a fast, easy and inexpensive way to interface with small, surface-mount ICs. You can connect any supported op amp using the included Samtec terminal strips or wire them directly to existing circuits.

The (...)

Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

SN74LVC1G08 Behavioral SPICE Model

SCEM642.ZIP (7 KB) - Modelo PSpice
Productos y hardware compatibles
Diseño de referencia

TIDA-00803 — Diseño de potencia de calidad automotriz para sistemas de cámaras frontales que utilizan procesadore

Este diseño de referencia proporciona un diseño de potencia automotriz de amplia aplicación para una variedad de procesadores ADAS, centrado en aplicaciones de cámaras delantera y trasera. El diseño admite un rango de entrada de 4 V a 48 V para alimentar carriles de potencia comunes del procesador (...)
Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
USON (DRY) 6 Ultra Librarian
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

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