ホーム ロジックと電圧変換 論理ゲート NAND ゲート

74AC11000

アクティブ

4 チャネル、2 入力、3V ~ 5.5V NAND ゲート

製品詳細

Technology family AC Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family AC Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Center-Pin VCC and GND Configurations Minimize High-Speed Switching Noise
  • EPIC (Enhanced-Performance Implanted CMOS) 1-µm Process
  • 500-mA Typ Latch-Up Immunity at 125°C
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages and Standard Plastic 300-mil DIPs (N)

EPIC is a trademark of Texas Instruments.

  • Center-Pin VCC and GND Configurations Minimize High-Speed Switching Noise
  • EPIC (Enhanced-Performance Implanted CMOS) 1-µm Process
  • 500-mA Typ Latch-Up Immunity at 125°C
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages and Standard Plastic 300-mil DIPs (N)

EPIC is a trademark of Texas Instruments.

This device contains four independent 2-input NAND gates. It performs the Boolean function Y = A • B or
Y = A + B in positive logic.

The 74AC11000 is characterized for operation from -40°C to 85°C.

This device contains four independent 2-input NAND gates. It performs the Boolean function Y = A • B or
Y = A + B in positive logic.

The 74AC11000 is characterized for operation from -40°C to 85°C.

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技術資料

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* データシート 74AC11000 データシート (Rev. B) 2005年 6月 2日

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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