ADS5547
- Maximum Sample Rate: 210 MSPS
- 14-Bit Resolution
- No Missing Codes
- Total Power Dissipation 1.23 W
- Internal Sample and Hold
- 73.3-dBFS SNR at 70-MHz IF
- 85-dBc SFDR at 70-MHz IF, 0-dB gain
- High Analog Bandwidth up to 800 MHz
- Double Data Rate (DDR) LVDS and Parallel CMOS Output Options
- Programmable Gain up to 6 dB for SNR/SFDR Trade-Off at High IF
- Reduced Power Modes at Lower Sample Rates
- Supports Input Clock Amplitude Down to 400 mVPP
- Clock Duty Cycle Stabilizer
- No External Reference Decoupling Required
- Internal and External Reference Support
- Programmable Output Clock Position to Ease Data Capture
- 3.3-V Analog and Digital Supply
- 48-QFN Package (7 mm × 7 mm)
- APPLICATIONS
- Wireless Communications Infrastructure
- Software Defined Radio
- Power Amplifier Linearization
- 802.16d/e
- Test and Measurement Instrumentation
- High Definition Video
- Medical Imaging
- Radar Systems
ADS5547 is a high performance 14-bit, 210-MSPS A/D converter. It offers state-of-the art functionality and performance using advanced techniques to minimize board space. With high analog bandwidth and low jitter input clock buffer, the ADC supports both high SNR and high SFDR at high input frequencies. It features programmable gain options that can be used to improve SFDR performance at lower full-scale analog input ranges.
In a compact 48-pin QFN, the device offers fully differential LVDS DDR (Double Data Rate) interface while parallel CMOS outputs can also be selected. Flexible output clock position programmability is available to ease capture and trade-off setup for hold times. At lower sampling rates, the ADC can be operated at scaled down power with no loss in performance. The ADS5547 includes an internal reference, while eliminating the traditional reference pins and associated external decoupling. The device also supports an external reference mode.
The device is specified over the industrial temperature range (-40°C to 85°C).
技術資料
| 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | 14-Bit 210 MSPS ADC With DDR LVDS/CMOS Outputs データシート (Rev. A) | 2007/05/07 | |||
| アプリケーション・ノート | Design Considerations for Avoiding Timing Errors during High-Speed ADC, LVDS Dat (Rev. A) | 2015/05/22 | ||||
| アプリケーション・ノート | Why Use Oversampling when Undersampling Can Do the Job? (Rev. A) | 2013/07/19 | ||||
| アプリケーション・ノート | Driving High-Speed ADCs: Circuit Topologies and System-Level Parameters （英語） (Rev. A) | 2010/09/10 | ||||
| アプリケーション・ノート | Smart Selection of ADC/DAC Enables Better Design of Software-Defined Radio | 2009/04/28 | ||||
| アプリケーション・ノート | CDCE62005 as Clock Solution for High-Speed ADCs | 2008/09/04 | ||||
| アプリケーション・ノート | CDCE72010 as a Clocking Solution for High-Speed Analog-to-Digital Converters | 2008/06/08 | ||||
| アプリケーション・ノート | Phase Noise Performance and Jitter Cleaning Ability of CDCE72010 | 2008/06/02 | ||||
| アプリケーション・ノート | QFN Layout Guidelines | 2006/07/28 |
設計と開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
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JITTER-SNR-CALC の使用により、入力周波数とクロック・ジッタに基づく ADC の理論上の信号対ノイズ比（SNR）性能の計算が可能になります。
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| VQFN (RGZ) | 48 | Ultra Librarian |
購入と品質
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。