SN74ABT541B
- State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
- Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
- Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
- High-Impedance State During Power Up and Power Down
- High-Drive Outputs (-32-mA IOH, 64-mA IOL)
- Package Options Include Plastic Small-Outline (DW), Shrink Small-Outline (DB), and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), Ceramic Flat (W) Package, and Plastic (N) and Ceramic (J) DIPs
EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments.
The SN54ABT541 and SN74ABT541B octal buffers and line drivers are ideal for driving bus lines or buffering memory address registers. The devices feature inputs and outputs on opposite sides of the package to facilitate printed circuit board layout.
The 3-state control gate is a two-input AND gate with active-low inputs so that if either output-enable (OE1 or OE2) input is high, all eight outputs are in the high-impedance state.
When VCC is between 0 and 2.1 V, the device is in the high-impedance state during power up or power down. However, to ensure the high-impedance state above 2.1 V, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
The SN54ABT541 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ABT541B is characterized for operation from -40°C to 85°C.
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技術資料
設計および開発
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14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
PDIP (N) | 20 | Ultra Librarian |
SOIC (DW) | 20 | Ultra Librarian |
SOP (NS) | 20 | Ultra Librarian |
SSOP (DB) | 20 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点