El LMG2650EVM-100 está diseñado para proporcionar una plataforma rápida y sencilla para evaluar los dispositivos de nitruro de galio (GaN) integrados de TI en cualquier topología de medio puente. La placa está diseñada para interconectarse con un sistema más grande mediante los 6 pines de potencia y los 12 pines digitales en el borde inferior de la placa en una conexión externa tipo conector hembra. Los pines de potencia forman el bucle de conmutación principal que consta de un bus de CC de alta tensión, un nodo de conmutación y alimentación a tierra. Los pines digitales controlan el dispositivo LMG2650 con entradas de puerta PWM, proporcionan potencia auxiliar con suministros de baja tensión e informan fallos como una salida digital. La evaluación del rendimiento del LMG2650EVM-100 se demuestra más fácilmente mediante una placa madre buck-boost síncrona de TI (LMG342X-BB-EVM). La tarjeta secundaria se conecta fácilmente a la placa madre y comunica toda la potencia y el control digital en una configuración de bucle abierto para un control completo del sistema. Además, se proporciona un espacio recomendado para conectar la tarjeta secundaria con un sistema personalizado para más pruebas.
Funciones
- Tensión de entrada de hasta 650 V
- Diseño simple de bucle abierto para evaluar el rendimiento del LMG2640
- Entrada PWM única/doble integrada para señal PWM con tiempo muerto variable
- Medio puente de transistor efecto de campo (FET) de potencia GaN altamente integrado con salida de emulación de detección de corriente de lado bajo
- Puntos de sonda prácticos para mediciones lógicas y de etapas de potencia con sondas de osciloscopio que tienen sondas de resorte de masa cortas