El módulo de evaluación (EVM) de la tarjeta secundaria LMG2640 está diseñado para proporcionar una plataforma rápida y sencilla para evaluar los dispositivos de nitruro de galio (GaN) integrados de TI en cualquier topología de medio puente. La placa está diseñada para interconectarse con un sistema más grande mediante los seis pines de alimentación y los 10 pines digitales en el borde inferior de la placa. Los pines de alimentación forman el bucle de conmutación principal que consta de un bus de CC de alta tensión, un nodo de conmutación y alimentación a tierra. Los pines digitales controlan el dispositivo LMG2640 con entradas de compuerta de modulación por ancho de pulsos (PWM), proporcionan potencia auxiliar con fuentes de alimentación de baja tensión e informan fallos como salida digital. La evaluación del rendimiento del LMG2640EVM se demuestra más fácilmente mediante una placa madre buck-boost síncrona de TI (LMG342X-BB-EVM). La tarjeta secundaria se conecta fácilmente a la placa madre y comunica toda la potencia y el control digital en una configuración de bucle abierto para un control completo del sistema. Además, se proporciona un espacio recomendado para conectar la tarjeta secundaria con un sistema personalizado para más pruebas.
| Tipo | Título | Descargar la versión más reciente en inglés | Fecha | ||
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| * | EVM User's guide | LMG2640 Half-Bridge Daughter Card Evaluation Module User's Guide | PDF | HTML | 7/10/2024 | |
| Certificado | LMG2640EVM-090 EU Declaration of Conformity (DoC) | PDF | HTML | 2/10/2024 |
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