El LMG2656EVM-102 está diseñado para proporcionar una plataforma rápida y sencilla para evaluar los dispositivos de nitruro de galio (GaN) integrados de TI en cualquier topología de medio puente. La placa está diseñada para interconectarse con un sistema más grande mediante los 6 pines de alimentación y los 12 pines digitales en el borde inferior de la placa en una conexión externa tipo zócalo. Los pines de alimentación forman el bucle de conmutación principal que consta de un bus de CC de alta tensión, un nodo de conmutación y alimentación a tierra. Los pines digitales controlan el dispositivo LMG2656 con entradas de compuerta de modulación por ancho de pulsos (PWM), proporcionan potencia auxiliar con fuentes de alimentación de baja tensión e informan fallos como salida digital. Los bucles de corriente de alta frecuencia de la etapa de potencia y de accionamiento de puerta están completamente encapsulados en la placa para minimizar la inductancia parásita del bucle de potencia, reducir el sobreimpulso de tensión y mejorar el rendimiento. La evaluación del rendimiento del LMG2656EVM-102 se demuestra más fácilmente mediante una placa madre buck-boost síncrona de TI (LMG342X-BB-EVM). La tarjeta secundaria se conecta fácilmente a la placa madre y comunica toda la potencia y el control digital en una configuración de bucle abierto para un control completo del sistema. Además, se proporciona un espacio recomendado para conectar la tarjeta secundaria con un sistema personalizado para más pruebas. Consulte la hoja de datos del LMG2656 antes de usar este módulo de evaluación (EVM).
Funciones
- Conmutador de nivel de accionamiento de puerta de lado alto
- Función de diodo de arranque conmutado inteligente: 0 QRR
- Medición de salida integrada de detección de corriente sin pérdidas
- Protección contra sobrecorriente ciclo a ciclo de lado bajo y alto y protección contra sobretemperatura conectadas a la señal de salida FAULT
- Tensión nominal máxima absoluta de 650 V