JAJSRL6A November 2023 – July 2025 AFE432A3W , AFE532A3W
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
| パラメータ | テスト条件 | 最小値 | 標準値 | 最大値 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 内部リファレンス | ||||||
| 初期精度 | 1.1979 | 1.212 | 1.224 | V | ||
| リファレンス出力の温度係数(1) (2) | 73 | ppm/℃ | ||||
| EEPROM | ||||||
| 耐久性(1) | –40℃ ≤ TA ≤ +85℃ | 20000 | サイクル | |||
| TA = 125℃ | 1000 | |||||
| データ保持期間(1) | 50 | 年 | ||||
| EEPROM プログラミング書き込みサイクル時間(1) | 200 | ms | ||||
| デバイスのブートアップ時間(1) | 電源有効 (VDD ≥ 3V) から出力有効状態 (EEPROM にプログラムされた出力状態) までに要する時間、CAP ピンの 0.5µF コンデンサ | 5 | ms | |||
| デジタル入力 | ||||||
| デジタル フィードスルー | 電圧出力モード、ミッドスケールでの DAC 静的出力、高速モード プラス、SCL トグル | 20 | nV-s | |||
| ピン容量 1 | ピンごと | 10 | pF | |||
| パワーダウン モード | ||||||
| IDD | VDD に流れる電流 | DAC はスリープ モード、内部リファレンスはパワーダウン | 28 | µA | ||
| IDD | VDD に流れる電流(1) | DAC はスリープ モード、内部リファレンス イネーブル、 内部リファレンスを流れる追加電流 | 10 | µA | ||
| DAC チャネル イネーブル、内部リファレンス イネーブル、電圧出力モードで DAC チャネルごとに内部リファレンスを流れる追加電流 | 12.5 | |||||
| ハイ インピーダンス出力 | ||||||
| ILEAK | VOUT および VFB に流れる電流 | DAC はハイ インピーダンス出力モード、3V ≤ VDD ≤ 5.5V | 10 | nA | ||
| VDD = 0V、VOUT ≤ 1.5V、V DD と AGND = 0.1μF の間のデカップリング コンデンサ | 200 | |||||
| VDD = 0V、1.5V < VOUT ≤ 5.5V、VDD と AGND = 0.1μF の間のデカップリング コンデンサ | 500 | |||||
| VDD と AGND の間の 100kΩ、VOUT ≤ 1.25V、OUT ピンの 10kΩ の直列抵抗 | ±2 | µA | ||||