JAJS810I July   1999  – October 2025 LM50 , LM50HV

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 説明
  5. 4 デバイスの比較
  6. 5 ピン構成および機能
  7. 6 仕様
    1. 6.1 絶対最大定格
    2. 6.2 ESD 定格
    3. 6.3 推奨動作条件
    4. 6.4 熱に関する情報
    5. 6.5 電気的特性：LM50 (LM50B および LM50C)
    6. 6.6 電気的特性：LM50HV
    7. 6.7 代表的特性 (LM50B および LM50C)
    8. 6.8 代表的特性 (LM50HV)
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 LM50 および LM50HV の伝達関数
    4. 7.4 デバイスの機能モード
  9. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 全範囲の摂氏温度センサ
        1. 8.2.1.1 設計要件
        2. 8.2.1.2 詳細な設計手順
          1. 8.2.1.2.1 容量性バイパスおよび負荷
          2. 8.2.1.2.2 LM50HV 自己発熱
        3. 8.2.1.3 アプリケーション曲線
    3. 8.3 システム例
    4. 8.4 電源に関する推奨事項
    5. 8.5 レイアウト
      1. 8.5.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.5.2 レイアウト例
      3. 8.5.3 熱に関する注意事項
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントのサポート
      1.      関連資料
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

6.5 電気的特性：LM50 (LM50B および LM50C)

LM50：+VS = 5V (DC) および ILOAD = 0.5µA、TA = TJ = 25°C (特に記述のない限り) (1)
LM50B (従来チップのみ)：TA =  TMIN to TMAX = -25°C ～ 100°C
LM50B (新しいチップ) および LM50C (新しいチップとレガシーチップの両方): TA =  TMIN to TMAX = -40°C ～ 125°C 

パラメータ テスト条件 最小値 標準値 最大値 単位
センサの精度
TACY 温度精度(2) TA = 25℃ LM50B
(従来チップ)		 -2 2 °C
TA = TMAX = 100°C -3 3
TA = TMIN = -25°C -3.5 3
TA = 25℃ LM50B
(新チップ)		 -2 2 °C
TA = TMAX = 125°C -3 3
TA = TMIN = -40°C -3.5 3
TA = 25℃ LM50C -3 3 °C
TA = TMAX = 125°C -4 4
TA = TMIN = -40°C -4 4
センサ出力
V0°C 0℃での出力電圧オフセット 500 mV
TC 温度係数（センサゲイン） TA = TJ = TMIN ~ TMAX 9.7 10 10.3
mV/℃
VONL 出力の非直線性(3) TA = TJ = TMIN ~ TMAX LM50 -0.8 0.8 °C
ZOUT 出力インピーダンス TA = TJ = TMIN ~ TMAX 2000 4000 Ω
TON ターンオン時間 LM50 (従来チップ) 5 μs
LM50 (新チップ) 30
TLTD 長期安定性とドリフト(4) TJ = 125°C (1000 時間) LM50 ±0.08 °C
電源
IDD 動作電流 TA = TMIN ～ TMAX
4.5V ≤ +VS ≤ 10V		 LM50 (従来チップ) 95 180 μA
LM50 (新チップ) 52 90
PSR ライン レギュレーション(5) TA = TMIN ～ TMAX
4.5V ≤ +VS ≤ 10V		 LM50 -1.2 1.2 mV/V
ΔI DD 静止電流の変化 TA = TMIN ～ TMAX
4.5V ≤ +VS ≤ 10V		 LM50 (従来チップ) 2 μA
LM50 (新チップ) 8
IDD_TEMP 静止電流の温度係数 TA = TMIN ～ TMAX
4.5V ≤ +VS ≤ 10V		 LM50B 1 μA/°C
LM50C 2
(1) 制限値はテキサス・インスツルメンツの平均出検品質限界 (AOQL) で規定されています。
(2) 精度は、電圧、電流、温度 (°C で表記) の指定条件における出力電圧と、デバイスのケース温度に 10mV/°C を乗じた値に 500mV を加えた値との誤差として定義されます。
(3) 非直線性は、デバイスの定格温度範囲における出力電圧と温度との関係を示す曲線と最も適合する直線との偏差として定義されます。
(4) 最善の長期安定性を確保するためには、どのような精密回路であれ、長期寿命テストを開始する前に、ユニットを暖かい温度でエージング、および / または少なくとも 46 時間の温度サイクルを実施することで、最良の結果が得られます。これは、小さな (表面実装) 部品が ウェーブ半田付けされている場合に特に当てはまります。応力緩和が発生するまでの時間がかかるためです。ドリフトの大部分は、温度が上昇してから 1000 時間程度で発生します。1000 時間後のドリフトは、最初の 1000 時間のレートでは継続されません。
(5) レギュレーションは、一定の接合部温度で、低いデューティ サイクルでのパルス テストを使用して測定されます。自己発熱による出力の変化は、内部消費電力に熱抵抗値を乗じると算出できます。