JAJSX42 August   2025 ADS9803

PRODMIX  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 説明
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性
    6. 5.6 タイミング要件
    7. 5.7 スイッチング特性
    8. 5.8 タイミング図
    9. 5.9 代表的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1 アナログ入力
        1. 6.3.1.1 入力クランプ保護回路
        2. 6.3.1.2 プログラマブル ゲイン アンプ (PGA)
        3. 6.3.1.3 広い同相電圧除去回路
      2. 6.3.2 ADC の伝達関数
      3. 6.3.3 ADC サンプリング クロック入力
      4. 6.3.4 複数の ADC の同期
      5. 6.3.5 基準電圧
      6. 6.3.6 データ インターフェイス
        1. 6.3.6.1 データ クロック出力
        2. 6.3.6.2 ADC 出力データ ランダマイザー
        3. 6.3.6.3 データの平均化
        4. 6.3.6.4 データ インターフェイスのテスト パターン
          1. 6.3.6.4.1 固定パターン
          2. 6.3.6.4.2 デジタル ランプ
          3. 6.3.6.4.3 交互テスト パターン
    4. 6.4 デバイスの機能モード
      1. 6.4.1 リセット
      2. 6.4.2 パワーダウン
      3. 6.4.3 初期化シーケンス
      4. 6.4.4 通常動作
      5. 6.4.5 スピード昇圧モード
    5. 6.5 プログラミング
      1. 6.5.1 レジスタ書き込み
      2. 6.5.2 レジスタ読み出し
      3. 6.5.3 SPI 設定用デイジー チェーン トポロジにおける複数デバイス
        1. 6.5.3.1 デイジーチェーンでのレジスタ書き込み
        2. 6.5.3.2 デイジーチェーンでのレジスタ読み出し
  8. 7 レジスタ マップ
    1. 7.1 レジスタ バンク 0
    2. 7.2 レジスタ バンク 1
    3. 7.3 レジスタ バンク 2
  9. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 パラメトリック測定ユニット (PMU)
      2. 8.2.2 設計要件
      3. 8.2.3 詳細な設計手順
      4. 8.2.4 アプリケーション曲線
    3. 8.3 電源に関する推奨事項
    4. 8.4 レイアウト
      1. 8.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.4.2 レイアウト例
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 9.2 サポート・リソース
    3. 9.3 商標
    4. 9.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 9.5 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

6.3.6.4 データ インターフェイスのテスト パターン

ADS9803 は、データ インターフェイスのデバッグと検証のためにホストで使用されるテスト パターンを備えています。テスト パターンは、ADC 出力データを事前定義済みデジタル データに置き換えます。バンク 1 の対応するレジスタ アドレス 0x13 ～ 0x1B を構成することで、テスト パターンを有効にします。

表 6-12 に、ADS9803 でサポートされているテスト パターンが示されています。

ADS9801 ADS9803 テスト パターンのレジスタ バンク図 6-10 テスト パターンのレジスタ バンク
表 6-12 テスト パターン構成
ADC 出力 TP_EN_CH[4:1]
TP_EN_CH[8:5]		 TP_MODE_CH[4:1]
TP_MODE_CH[8:5]		 セクション 結果1
ADC 変換結果 0
固定パターン 1 0 または 1 固定パターン CH[4:1] = TP0_A
CH[8:5] = TP0_B
デジタル ランプ 1 2 デジタル ランプ CH[4:1] = デジタル ランプ
CH[8:5] = デジタル ランプ
テスト パターンの交互配置 1 3 交互テスト パターン CH[1], CH[3] = TP0_A
CH[2]、CH[4] = TP1_A
CH[8]、CH[6] = TP0_B
CH[7]、CH[5] = TP1_B
注:
  1. 2 つの独立したチャネル グループ CH[4:1] と CH[8:5] のテスト パターンを設定します。