Soporte de software
ADS98XX-FPGA-EXAMPLE-CODE — ADS98xx FPGA interface example code
Expedite your ADS98xx digital design with this Verilog module from Texas Instruments
ADS9811
ADC de muestreo simultáneo de 8 canales, 18 bits y 1 MSPS con circuito frontal analógico integrado
Hoja de datos
ADS9811
- 8-channel, 18-bit ADC with analog front-end:
- Simultaneous sampling
- Constant 1MΩ input impedance front-end
- Programmable analog input ranges:
- ±12V, ±10V, ±7V, ±5V, ±3.5V, and ±2.5V
- Single-ended and differential inputs
- Common-mode voltage range: ±12V
- Input overvoltage protection: Up to ±18V
- User-selectable analog input bandwidth:
- 22.7kHz and 700kHz
- Integrated low-drift precision references:
- ADC reference: 4.096V
- 2.5V reference output for external circuits
- Excellent AC and DC performance at full-throughput:
- DNL: ±0.35LSB, INL: ±0.8LSB
- SNR: 90.3dBFS, THD: –113dB
- Power supply:
- Analog and digital: 5V and 1.8V
- Digital interface: 1.2V to 1.8V
- Temperature range: –40°C to +125°C
The ADS9813 is an eight-channel data acquisition (DAQ) system based on a simultaneous sampling, 18-bit successive approximation register (SAR) analog-to-digital converter (ADC). The ADS9813 features a complete analog front-end (AFE) for each channel with an input clamp. The device also features a 1MΩ input impedance and a programmable gain amplifier (PGA) with user-selectable bandwidth options. The high input impedance allows direct connection with sensors and transformers, thus eliminating the need for external driver circuits. Configure the ADS9813 to accept ±12V, ±10V, ±7V, ±5V, ±3.5V, and ±2.5V bipolar inputs with up to ±12V input common-mode voltage.
A digital interface supporting 1.2V to 1.8V operation enables the ADS9813 to be used without external voltage level translators.
Documentación técnica
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Ver todo 3 | Documentación principal | Tipo | Título | Opciones de formato | Fecha |
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | ADS9813 18 -Bit, 2MSPS, 8-Channel, Simultaneous-Sampling ADC With Integrated Analog Front-End datasheet (Rev. A) | PDF | HTML | 30 nov 2024 |
| Application brief | Measurement Cards for Semiconductor Automatic Test Equipment (ATE) | PDF | HTML | 28 abr 2025 | |
| Application brief | High-Speed Data Interface for Precision High-Speed ADC in Semiconductor Test | PDF | HTML | 16 mar 2023 |
Diseño y desarrollo
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Guía del usuario: PDF
| Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
|---|---|---|
| VQFN (RSH) | 56 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
Información incluida:
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)/reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
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