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BQ77216

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Protección de tensión y temperatura para baterías de celda de iones de litio de 3-s a 16-s con tempo

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BQ77216

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Detalles del producto

Rating Catalog Number of series cells (max) 16 Number of series cells (min) 3 Features FET drive, Open wire (OW), Over-temperature (OT), Overvoltage, Stackable, Under-temperature (UT), Undervoltage Function Protection Operating current (typ) (µA) 1 Vin (max) (V) 85 TI functional safety category Functional Safety-Capable Overvoltage protection 3.6, 3.8, 4.225, 4.25, 4.275, 4.3, 4.325, 4.35 Operating temperature range (°C) -40 to 110 Battery overvoltage protection (min) (V) 3.55 Battery overvoltage protection (max) (V) 5.1
Rating Catalog Number of series cells (max) 16 Number of series cells (min) 3 Features FET drive, Open wire (OW), Over-temperature (OT), Overvoltage, Stackable, Under-temperature (UT), Undervoltage Function Protection Operating current (typ) (µA) 1 Vin (max) (V) 85 TI functional safety category Functional Safety-Capable Overvoltage protection 3.6, 3.8, 4.225, 4.25, 4.275, 4.3, 4.325, 4.35 Operating temperature range (°C) -40 to 110 Battery overvoltage protection (min) (V) 3.55 Battery overvoltage protection (max) (V) 5.1
TSSOP (PW) 24 49.92 mm² 7.8 x 6.4
  • 3-series cell to 16-series cell protection
  • High-accuracy overvoltage protection
    • ± 10mV at 25°C
    • ± 20mV from 0°C to 60°C
  • Overvoltage protection options from 3.55V to 5.1V
  • Undervoltage protection with options from 1.0V to 3.5V
  • Open-wire connection detection
  • Overtemperature protection
  • Undertemperature protection
  • Random cell connection
  • Functional safety-capable
  • Fixed internal delay timers
  • Fixed detections thresholds
  • Fixed output drive type for each of COUT and DOUT
    • Active high or active low
    • Active high drive to 6V
    • Open drain with the ability to be pulled up externally to VDD
  • Low power consumption ICC ≈ 1µA (VCELL(ALL) < VOV)
  • Low leakage current per cell input < 100nA with open wire detection disabled
  • Package footprint options:
    • Leaded 24-pin TSSOP with 0.65mm lead pitch
  • 3-series cell to 16-series cell protection
  • High-accuracy overvoltage protection
    • ± 10mV at 25°C
    • ± 20mV from 0°C to 60°C
  • Overvoltage protection options from 3.55V to 5.1V
  • Undervoltage protection with options from 1.0V to 3.5V
  • Open-wire connection detection
  • Overtemperature protection
  • Undertemperature protection
  • Random cell connection
  • Functional safety-capable
  • Fixed internal delay timers
  • Fixed detections thresholds
  • Fixed output drive type for each of COUT and DOUT
    • Active high or active low
    • Active high drive to 6V
    • Open drain with the ability to be pulled up externally to VDD
  • Low power consumption ICC ≈ 1µA (VCELL(ALL) < VOV)
  • Low leakage current per cell input < 100nA with open wire detection disabled
  • Package footprint options:
    • Leaded 24-pin TSSOP with 0.65mm lead pitch

The BQ77216xx family of products provides a range of voltage and temperature monitoring, including overvoltage (OVP), undervoltage (UVP), open wire (OW), undertemperature (UT), and overtemperature (OT) protection for Li-ion battery pack systems. Each cell is monitored independently for overvoltage, undervoltage, and open-wire conditions. With the addition of an external NTC thermistor, the device can detect undertemperature and overtemperature conditions.

In the BQ77216xx device, an internal delay timer is initiated upon detection of an overvoltage, undervoltage, open-wire,undertemperature, or overtemperature condition. Upon expiration of the delay timer, the respective output is triggered into its active state (either high or low, depending on the configuration).

Overvoltage triggers the COUT pin if a fault is detected, and undervoltage triggers the DOUT pin if a fault is detected. If an overtemperature or open-wire fault is detected, then the DOUT and COUT are triggered. For quicker production-line testing, the BQ77216xx device provides a Customer Test Mode (CTM) with greatly reduced delay time.

The BQ77216xx family of products provides a range of voltage and temperature monitoring, including overvoltage (OVP), undervoltage (UVP), open wire (OW), undertemperature (UT), and overtemperature (OT) protection for Li-ion battery pack systems. Each cell is monitored independently for overvoltage, undervoltage, and open-wire conditions. With the addition of an external NTC thermistor, the device can detect undertemperature and overtemperature conditions.

In the BQ77216xx device, an internal delay timer is initiated upon detection of an overvoltage, undervoltage, open-wire,undertemperature, or overtemperature condition. Upon expiration of the delay timer, the respective output is triggered into its active state (either high or low, depending on the configuration).

Overvoltage triggers the COUT pin if a fault is detected, and undervoltage triggers the DOUT pin if a fault is detected. If an overtemperature or open-wire fault is detected, then the DOUT and COUT are triggered. For quicker production-line testing, the BQ77216xx device provides a Customer Test Mode (CTM) with greatly reduced delay time.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Certificate BQ77216EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 29 jul 2020

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

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Design guide: PDF
Esquema: PDF
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 24 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

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