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SN74AHC1G32-Q1

ACTIVO

Puerta OR de alta velocidad (9 ns), de un canal y dos entradas, de 2 V a 5.5 V para automoción

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SN74AHC1G32-Q1

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Detalles del producto

Technology family AHC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AHC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
X2SON (DTX) 5 0.935 mm² (1.1 mm × 0.85 mm) SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² (2 mm × 2.1 mm) SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Qualified for automotive applications
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Maximum tpd of 6.5ns at 5V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Qualified for automotive applications
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Maximum tpd of 6.5ns at 5V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17

The SN74AHC1G32-Q1 is a single 2-input positive-OR gate. The device performs the Boolean functionY = A + B in positive logic.

The SN74AHC1G32-Q1 is a single 2-input positive-OR gate. The device performs the Boolean functionY = A + B in positive logic.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN74AHC1G32-Q1 Automotive Single 2-Input Positive-OR Gate datasheet (Rev. E) PDF | HTML 10/10/2024
Más documentación Automotive Logic Devices Brochure 27/08/2014

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación de lógico genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV,de 5- a 8-pines

EVM flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV y entre 5 y 8 pines.
Guía del usuario: PDF
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

SN74AHC1G32 Behavioral SPICE Model

SCLM268.ZIP (7 KB) - Modelo PSpice
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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
X2SON (DTX) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Soporte y capacitación

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