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SN74HC21

ACTIVO

Compuerta AND de 2 canales y 4 entradas de 2 V a 6 V y 5.2 mA de potencia de accionamiento

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SN74HC21

ACTIVO
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Detalles del producto

Technology family HC Number of channels 2 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family HC Number of channels 2 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
SOIC (D) 14 51.9 mm² (8.65 mm × 6 mm) PDIP (N) 14 181.42 mm² (19.3 mm × 9.4 mm) TSSOP (PW) 14 32 mm² (5 mm × 6.4 mm) SOP (NS) 14 79.56 mm² (10.2 mm × 7.8 mm)
  • Buffered inputs
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Wide operating temperature range: -40°C to +85°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
  • Buffered inputs
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Wide operating temperature range: -40°C to +85°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs

This device contains two independent 4-input AND gates. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B ● C ● D in positive logic.

This device contains two independent 4-input AND gates. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B ● C ● D in positive logic.
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Documentación técnica

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Documentación principal Tipo Título Opciones de formato Descargar la versión más reciente en inglés Fecha
* Hoja de datos SNx4HC21 Dual 4-Input AND Gates datasheet (Rev. F) PDF | HTML 11/06/2021

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

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